一种基于ADC芯片的高速高精度数据采集方法及系统

    公开(公告)号:CN117728836A

    公开(公告)日:2024-03-19

    申请号:CN202311583759.2

    申请日:2023-11-24

    IPC分类号: H03M1/10 H03M1/12

    摘要: 本发明公开了一种基于ADC芯片的高速高精度数据采集方法,涉及数据采集与数据通信领域,包括通过指针电压表对电路中各支路电压进行测量,获取样本数据。通过并联等值电阻将电路电压分为多个支路,利用电压比较器量化各支路电压样本数据,得到量化数据。对量化数据进行二进制补码编码获取编码数据。将编码数据解码为原始电压数据,并对数据进行检测,若存在故障数据则发出故障预警,若数据正常则创建相应字段存储电压数据来完成电压数字信号的数据库存储。本发明通过ADC芯片将模拟信号转化为数字信号,解析度高,能够为后续的数据处理提供高质量的数据输入,高分辨度和高精度的ADC芯片能够提高数据的准确性和可靠性,完成高质量的数据采集。

    电缆局部放电集中点检测方法及其系统

    公开(公告)号:CN105334439B

    公开(公告)日:2018-11-09

    申请号:CN201510807567.4

    申请日:2015-11-19

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本发明提供一种电缆局部放电集中点检测方法及其系统,通过将待测电缆划分为多个统计区间,如果统计区间中局部放电点的个数不小于预设的放电点数相对阈值,则统计该统计区间中局部放电量大于预设放电量相对阈值的局部放电点的个数;当所述局部放电量大于预设放电量相对阈值的局部放电点的个数超过预设的放电点数绝对阈值时,判决该统计区间出现局部放电集中点,并且,获取所述局部放电集中点的位置为该统计区间中局部放电量大于预设放电量相对阈值的局部放电点位置的重心,否则,判决该统计区间无局部放电集中点。能够自动准确地判断并定位待测电缆上的局部放电集中点的位置,能有效解决局部放电集中点检测的准确准确性问题。

    一种ADC芯片故障检测方法及系统
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117517925A

    公开(公告)日:2024-02-06

    申请号:CN202311477976.3

    申请日:2023-11-08

    摘要: 本发明公开了一种ADC芯片故障检测方法,包括:结合预处理和信号分割提取ADC芯片的原始输出信号的特征参数,特征参数包括:采样率,信噪比,对所述特征参数进行数据分析和处理,得出故障特征参数;依据所述故障特征参数建立故障特征参数与ADC芯片故障类型之间的关联模型;根据所述关联模型输出的判断值与设定阈值对比判断芯片是否存在故障,依据所述关联模型预测的结果和芯片的结构、特性确定芯片故障类型和位置,本发明的检测速度快、准确性高、成本低等优势,具有较大的应用价值和商业前景。