发明公开
- 专利标题： 激光模拟磁阻式随机存取存储器的单粒子闩锁评估方法
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申请号： CN202311097575.5申请日： 2023-08-29
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公开(公告)号： CN116978418A公开(公告)日： 2023-10-31
- 发明人: 于春青 , 李同德 , 王亚坤 , 王亮 , 张彦龙 , 岳素格 , 苑靖爽 , 孙雨 , 朱永钦 , 杜芊 , 鲍一豪
- 申请人： 北京时代民芯科技有限公司 , 北京微电子技术研究所
- 申请人地址： 北京市丰台区东高地四营门北路2号;
- 专利权人： 北京时代民芯科技有限公司,北京微电子技术研究所
- 当前专利权人： 北京时代民芯科技有限公司,北京微电子技术研究所
- 当前专利权人地址： 北京市丰台区东高地四营门北路2号;
- 代理机构： 中国航天科技专利中心
- 代理商 陈鹏
- 主分类号： G11C11/15
- IPC分类号： G11C11/15 ; G11C29/12
摘要：
一种激光模拟磁阻式随机存取存储器的单粒子闩锁评估方法，通过包括磁阻式随机存取存储器、试验电路板、线缆、程控电源，上位机的单粒子闩锁评估系统，首先进行背辐照样品制备及功能测试，以通过功能测试的磁阻式随机存取存储器进行激光单粒子闩锁试验，通过获取的单粒子闩锁阈值、单粒子闩锁饱和截面、SEL现象敏感位置信息实现单粒子抗闩锁特性的综合评估。
