发明公开
CN116744123A 共焦测量系统的多孔盘
审中-公开
- 专利标题: 共焦测量系统的多孔盘
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申请号: CN202310724763.X申请日: 2022-12-14
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公开(公告)号: CN116744123A公开(公告)日: 2023-09-12
- 发明人: 张琥杰 , 张和君 , 刘怡 , 章智伟
- 申请人: 深圳市中图仪器股份有限公司
- 申请人地址: 广东省深圳市南山区西丽街道学苑大道1001号南山智园B1栋2楼
- 专利权人: 深圳市中图仪器股份有限公司
- 当前专利权人: 深圳市中图仪器股份有限公司
- 当前专利权人地址: 广东省深圳市南山区西丽街道学苑大道1001号南山智园B1栋2楼
- 代理机构: 深圳舍穆专利代理事务所
- 代理商 邱爽
- 主分类号: H04N23/76
- IPC分类号: H04N23/76 ; G02B21/06 ; H04N25/58 ; H04N5/265 ; G01B11/24
摘要:
本公开描述一种共焦测量系统的多孔盘,共焦测量系统基于多孔盘进行成像,多孔盘包括具有若干条阿基米德螺线的螺线区域,形成阿基米德螺线的通光孔组以围绕多孔盘的中心呈旋转对称分布,螺线区域包括多组以环绕多孔盘的中心的方式呈周期性排列的通光孔阵列,且螺线区域包括至少三组通光孔阵列。由此,该多孔盘能够根据待测物表面反射率的不同在一个旋转周内多次成像,光学测量系统及基于光学测量系统的成像方法能够对成像的多幅不同曝光范围的图像进行多帧融合以获得更大的动态范围。
公开/授权文献
- CN116744123B 共焦测量系统的多孔盘 公开/授权日:2024-01-23