本发明提供一种检测装置以及检测装置的制造方法，能够广泛地确保能够连接外部导出引线的接合线的范围且能够可靠地使传感器芯片的检测面露出。检测装置具有：具有外部导出引线的引线架；隔着具有弹性的第一绝缘膜设置在引线架上的半导体集成电路芯片；电连接外部导出引线和半导体集成电路芯片的第一接合线；具有第一面、与第一面相反侧的第二面并在第二面上设置检测部且使第一面与半导体集成电路芯片对置地设置在半导体集成电路芯片上的传感器芯片；密封引线架、半导体集成电路芯片、传感器芯片以及第一接合线的模制树脂，传感器芯片电连接于半导体集成电路芯片，在模制树脂上形成检测部露出的开口部。