发明公开
- 专利标题: 一种硅片减薄净化工件及采用该工件的减薄净化工艺
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申请号: CN202110012997.2申请日: 2021-01-06
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公开(公告)号: CN112792729A公开(公告)日: 2021-05-14
- 发明人: 刘姣龙 , 刘建伟 , 刘园 , 武卫 , 由佰玲 , 裴坤羽 , 孙晨光 , 王彦君 , 祝斌 , 常雪岩 , 杨春雪 , 谢艳 , 袁祥龙 , 张宏杰 , 刘秒 , 吕莹 , 徐荣清
- 申请人: 天津中环领先材料技术有限公司 , 中环领先半导体材料有限公司
- 申请人地址: 天津市滨海新区华苑产业区(环外)海泰东路12号;
- 专利权人: 天津中环领先材料技术有限公司,中环领先半导体材料有限公司
- 当前专利权人: 天津中环领先材料技术有限公司,中环领先半导体材料有限公司
- 当前专利权人地址: 天津市滨海新区华苑产业区(环外)海泰东路12号;
- 代理机构: 天津诺德知识产权代理事务所
- 代理商 栾志超
- 主分类号: B24B37/34
- IPC分类号: B24B37/34 ; B24B55/00 ; B08B7/00 ; B08B13/00 ; H01L21/304
摘要:
本发明提供一种硅片减薄净化工件,用于净化放置台面靠近被磨硅片的一侧面,包括基片及置于所述基片一侧的吸附层;所述基片侧面与所述吸附层连接设置,且其结构与所述吸附层相适配;所述吸附层远离所述基片一侧为平面,且其面积不小于被磨所述硅片的面积,并所述吸附层远离所述基片一侧具有粘性。本发明还提出一种采用该工件的减薄净化工艺。本发明减薄净化工件,结构简单且易于操作,可快速与放置被磨硅片的台面配合,经过空置旋转一段时间后,即可完全将台面上的磨削颗粒吸附走,同时还可吸附台面上其它硅粉颗粒,完全净化台面与被磨硅片接触的表面,保证台面洁净度,提高晶片研磨质量,提高研磨效率。