Invention Grant
- Patent Title: 清洗半导体硅片的装置及方法
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Application No.: CN201880093970.7Application Date: 2018-06-07
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Publication No.: CN112470252BPublication Date: 2024-06-07
- Inventor: 王晖 , 方志友 , 吴均 , 卢冠中 , 陈福平 , 王坚 , 王俊 , 王德云
- Applicant: 盛美半导体设备(上海)股份有限公司
- Applicant Address: 上海市浦东新区自由贸易试验区蔡伦路1690号第4幢
- Assignee: 盛美半导体设备(上海)股份有限公司
- Current Assignee: 盛美半导体设备(上海)股份有限公司
- Current Assignee Address: 上海市浦东新区自由贸易试验区蔡伦路1690号第4幢
- Agency: 上海专利商标事务所有限公司
- Agent 陆嘉
- International Application: PCT/CN2018/090227 2018.06.07
- International Announcement: WO2019/232741 EN 2019.12.12
- Date entered country: 2020-11-27
- Main IPC: H01L21/00
- IPC: H01L21/00

Abstract:
本发明揭示了清洗半导体硅片(202)的装置及方法。其中,方法包括以下步骤:将一片或多片硅片(202)依次输送到至少一个第一槽(201)内及一个或多个第二槽(207)内以执行槽式清洗工艺,所述第一槽(201)内盛有化学液,第二槽(207)内盛有清洗液;从一个或多个第二槽(207)内的清洗液中取出该一片或多片硅片(202),并将该一片或多片硅片(202)传输至一个或多个单片清洗模组(510)内以执行单片硅片的清洗及干燥工艺;其中,从该一片或多片硅片(202)从所述至少一个第一槽(201)内的化学液中出来的那一刻直至该一片或多片硅片(202)浸入所述一个或多个第二槽(207)内的清洗液中,和/或从该一片或多片硅片(202)从所述一个或多个第二槽(207)内的清洗液中出来的那一刻直至该一片或多片硅片(202)传输到一个或多个单片清洗模组(510)中,在该一片或多片硅片(202)上控制并保持一定厚度的液膜(204,504)。
Public/Granted literature
- CN112470252A 清洗半导体硅片的装置及方法 Public/Granted day:2021-03-09
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