发明授权
- 专利标题: 用于检验的模式选择的方法和系统
-
申请号: CN201980017247.5申请日: 2019-03-28
-
公开(公告)号: CN111837228B公开(公告)日: 2021-11-30
- 发明人: M·普利哈尔 , S·帕拉马西万 , A·杰因 , P·俄珀鲁里 , R·科努鲁
- 申请人: 科磊股份有限公司
- 申请人地址: 美国加利福尼亚州
- 专利权人: 科磊股份有限公司
- 当前专利权人: 科磊股份有限公司
- 当前专利权人地址: 美国加利福尼亚州
- 代理机构: 北京律盟知识产权代理有限责任公司
- 代理商 刘丽楠
- 优先权: 201841011800 20180328 IN 62/728,705 20180907 US 16/364,098 20190325 US
- 国际申请: PCT/US2019/024445 2019.03.28
- 国际公布: WO2019/191342 EN 2019.10.03
- 进入国家日期: 2020-09-04
- 主分类号: H01L21/67
- IPC分类号: H01L21/67 ; H01L21/66
摘要:
本发明提供用于选择用于检验样品的模式的方法及系统。一种方法包含确定在样品上所检测到的所关注缺陷DOI与扰乱在检验子系统的一或多个模式中的可分离性如何。使用所述模式针对所述DOI及所述扰乱的可分离性来选择所述模式的子集以用于检验相同类型的其它样品。所述模式的性能的其它特性可与所述可分离性组合使用来选择所述模式。基于所述可分离性而选择的所述模式子集还可为初始模式子集,针对所述初始模式子集执行额外分析以确定所述模式的最后子集。
公开/授权文献
- CN111837228A 用于检验的模式选择 公开/授权日:2020-10-27
IPC分类: