发明授权
- 专利标题: 光纤连接器端面参数测量装置及测量方法
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申请号: CN201910266676.8申请日: 2019-04-03
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公开(公告)号: CN110017791B公开(公告)日: 2020-02-28
- 发明人: 段亚轩 , 达争尚 , 李红光 , 陈永权 , 袁索超 , 王璞 , 李铭 , 寇经纬 , 王拯洲
- 申请人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 申请人地址: 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- 专利权人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 当前专利权人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
- 当前专利权人地址: 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
- 代理机构: 西安智邦专利商标代理有限公司
- 代理商 史晓丽
- 主分类号: G01B11/24
- IPC分类号: G01B11/24 ; G01B11/255 ; G01B11/06
摘要:
为解决现有光纤连接器端面参数测量方法易受环境影响、测试精度不高、测量效率低、动态范围小的技术问题,本发明提出了一种光纤连接器端面参数测量装置及测量方法。其中,测量装置包括沿同一光路依次设置的光源、会聚镜、靶板、准直镜、一号分束镜和吸收体;定义一号分束镜面向准直镜的面为第一镜面,在准直镜的出射光束经第一镜面反射后的反射光路上,设置有一号显微物镜;一号显微物镜的出射光束经第一镜面透射后的透射光路上依次设置有二号分束镜、扩束系统和夏克‑哈特曼波前传感器;二号分束镜的反射光路上依次设置有二号显微物镜和成像探测器;成像探测器设置在一维电控平移台上,一维电控平移台通过驱动器与控制及数据分析计算机相连。
公开/授权文献
- CN110017791A 光纤连接器端面参数测量装置及测量方法 公开/授权日:2019-07-16