发明公开
CN109477206A 溅射靶材及该溅射靶材的制造方法
无效 - 撤回
- 专利标题: 溅射靶材及该溅射靶材的制造方法
- 专利标题(英): SPUTTERING TARGET AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
-
申请号: CN201780043223.8申请日: 2017-06-16
-
公开(公告)号: CN109477206A公开(公告)日: 2019-03-15
- 发明人: 山崎舜平 , 中岛基 , 马场晴之
- 申请人: 株式会社半导体能源研究所
- 申请人地址: 日本神奈川县厚木市
- 专利权人: 株式会社半导体能源研究所
- 当前专利权人: 株式会社半导体能源研究所
- 当前专利权人地址: 日本神奈川县厚木市
- 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 童春媛; 林毅斌
- 优先权: 2016-137190 2016.07.11 JP
- 国际申请: PCT/IB2017/053577 2017.06.16
- 国际公布: WO2018/011645 EN 2018.01.18
- 进入国家日期: 2019-01-11
- 主分类号: C23C14/34
- IPC分类号: C23C14/34 ; C04B35/01 ; G02F1/1368 ; H01L21/336 ; H01L21/363 ; H01L29/786
摘要:
提供一种新颖的金属氧化物或新颖的溅射靶材。溅射靶材包含导电材料及绝缘材料。绝缘材料包含含有元素M1的氧化物、氮化物或氧氮化物。元素M1为选自Al、Ga、Si、Mg、Zr、Be和B中的一种或多种的元素。导电材料包含含有铟及锌的氧化物、氮化物或氧氮化物。使用导电材料和绝缘材料彼此分离的溅射靶材沉积金属氧化物膜。
IPC分类: