红外成像导引头抗干扰性能评估方法及系统
摘要:
本发明提供了一种红外成像导引头抗干扰性能评估方法及系统,包括:对每个核函数训练单核SVR,得到输入抗干扰性能指标值和输出综合性能评估值之间的映射关系;获取训练样本,并初始化每个训练样本的权值,初始化回归器F(x)=0;对每个单核SVR计算回归误差,并选择回归误差最小的最优SVR;计算最优学习器H(j)的权值β(j),更新回归器F←F+β(j)H(j);根据最优学习器的权值β(j)更新训练样本的权值,然后归一化所有最优学习器的权值β(j);返回回归误差计算,直到达到迭代次数。本发明能够在抗干扰评估指标体系下得到综合的抗干扰性能值。
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