发明授权
- 专利标题: 红外成像导引头抗干扰性能评估方法及系统
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申请号: CN201811162653.4申请日: 2018-09-30
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公开(公告)号: CN109299555B公开(公告)日: 2020-02-04
- 发明人: 洪泽华 , 陆志沣 , 葛辰杰 , 乔宇 , 马潮 , 余海鸣
- 申请人: 上海机电工程研究所
- 申请人地址: 上海市闵行区元江路3888号(八部)
- 专利权人: 上海机电工程研究所
- 当前专利权人: 上海机电工程研究所
- 当前专利权人地址: 上海市闵行区元江路3888号(八部)
- 代理机构: 上海汉声知识产权代理有限公司
- 代理商 庄文莉
- 主分类号: G06F30/27
- IPC分类号: G06F30/27 ; G06N20/10 ; F41G3/00
摘要:
本发明提供了一种红外成像导引头抗干扰性能评估方法及系统,包括:对每个核函数训练单核SVR,得到输入抗干扰性能指标值和输出综合性能评估值之间的映射关系;获取训练样本,并初始化每个训练样本的权值,初始化回归器F(x)=0;对每个单核SVR计算回归误差,并选择回归误差最小的最优SVR;计算最优学习器H(j)的权值β(j),更新回归器F←F+β(j)H(j);根据最优学习器的权值β(j)更新训练样本的权值,然后归一化所有最优学习器的权值β(j);返回回归误差计算,直到达到迭代次数。本发明能够在抗干扰评估指标体系下得到综合的抗干扰性能值。
公开/授权文献
- CN109299555A 红外成像导引头抗干扰性能评估方法及系统 公开/授权日:2019-02-01