Invention Grant
CN107658342B 非对称的屏蔽栅MOSFET结构及其制备方法
失效 - 权利终止
- Patent Title: 非对称的屏蔽栅MOSFET结构及其制备方法
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Application No.: CN201710997761.2Application Date: 2017-10-24
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Publication No.: CN107658342BPublication Date: 2020-06-30
- Inventor: 徐承福 , 朱阳军
- Applicant: 贵州芯长征科技有限公司 , 南京芯长征科技有限公司
- Applicant Address: 贵州省贵阳市观山湖区林城西路摩根中心A座10层A-10-003号
- Assignee: 贵州芯长征科技有限公司,南京芯长征科技有限公司
- Current Assignee: 江苏芯长征微电子集团股份有限公司,南京芯长征科技有限公司
- Current Assignee Address: 贵州省贵阳市观山湖区林城西路摩根中心A座10层A-10-003号
- Agency: 苏州国诚专利代理有限公司
- Agent 韩凤
- Main IPC: H01L29/78
- IPC: H01L29/78 ; H01L29/423 ; H01L21/336

Abstract:
本发明涉及一种非对称的屏蔽栅MOSFET结构及其制备方法,其在第一导电类型漂移层内设置第一元胞沟槽以及第二元胞沟槽,在所述第一元胞沟槽、第二元胞沟槽内均设置屏蔽栅结构;在第一元胞沟槽远离第二元胞沟槽的外侧设置第二导电类型第一基区,在第一元胞沟槽与第二元胞沟槽间设置第二导电类型第二基区,在第二元胞沟槽远离第一元胞沟槽的外侧设置第二导电类型第三基区,从而能形成非对称结构,利用所述非对称结构,能减少第一导电类型源区与第二导电类型基区的接触面积,且能提供更多的电流泄放路径,减少了第一导电类型源区下方的电流,进一步减少了寄生三极管开启的可能性,从而提高了屏蔽栅MOSFET器件的雪崩电流。
Public/Granted literature
- CN107658342A 非对称的屏蔽栅MOSFET结构及其制备方法 Public/Granted day:2018-02-02
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