发明授权
- 专利标题: 一种GaN纳米结构阵列生长方法
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申请号: CN201611113575.X申请日: 2016-12-05
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公开(公告)号: CN106803478B公开(公告)日: 2019-12-06
- 发明人: 修向前 , 陈琳 , 陈丁丁 , 李悦文 , 华雪梅 , 谢自力 , 张荣 , 韩平 , 陆海 , 顾书林 , 施毅 , 郑有炓
- 申请人: 南京大学
- 申请人地址: 江苏省南京市鼓楼区汉口路22号
- 专利权人: 南京大学
- 当前专利权人: 南京大学
- 当前专利权人地址: 江苏省南京市鼓楼区汉口路22号
- 代理机构: 南京瑞弘专利商标事务所
- 代理商 陈建和
- 主分类号: H01L21/02
- IPC分类号: H01L21/02 ; C23C16/30 ; C23C16/44
摘要:
一种制备GaN纳米结构阵列的方法,利用CVD设备和石墨烯插入层及低温GaN缓冲层升华法生长GaN纳米结构阵列;衬底采用蓝宝石、硅或石英玻璃、GaN/蓝宝石(硅),衬底清洗后,先覆盖单层或多层石墨烯薄膜;将覆有石墨烯薄膜的衬底放入CVD管式炉生长系统中,开始GaN纳米结构生长;先在低温下生长GaN缓冲层,然后升温至高温开始生长GaN纳米阵列;缓冲层生长温度:500–1000℃,纳米线阵列生长温度1000‑1150℃;高纯N2作为载气,总N2载气流量0.5‑5slm。
公开/授权文献
- CN106803478A 一种GaN纳米结构阵列生长方法 公开/授权日:2017-06-06
IPC分类: