Invention Publication
- Patent Title: 晶圆清洗干燥装置
- Patent Title (English): Wafer cleaning and drying apparatus
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Application No.: CN201610010190.4Application Date: 2016-01-05
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Publication No.: CN105470177APublication Date: 2016-04-06
- Inventor: 许振杰 , 王同庆 , 李昆 , 路新春
- Applicant: 天津华海清科机电科技有限公司 , 清华大学
- Applicant Address: 天津市津南区海河科技园区聚兴道9号8号楼
- Assignee: 天津华海清科机电科技有限公司,清华大学
- Current Assignee: 清华大学,华海清科股份有限公司
- Current Assignee Address: 天津市津南区海河科技园区聚兴道9号8号楼
- Agency: 北京清亦华知识产权代理事务所
- Agent 黄德海
- Main IPC: H01L21/67
- IPC: H01L21/67

Abstract:
本发明公开了一种晶圆清洗干燥装置,晶圆清洗干燥装置包括:转盘,晶圆适于固定在转盘上;第一流体盘,第一流体盘设置在转盘和晶圆之间;第二流体盘,第二流体盘与第一流体盘关于晶圆相对设置,其中,第一流体盘和第二流体盘的朝向晶圆的表面上均设置有适于喷射流体的多个喷孔,流体包括氮气。通过设置第一流体盘和第二流体盘,第一流体盘内的流体可以通过相应的喷孔喷射在晶圆的下表面上,第二流体盘内的流体可以通过相应的喷孔喷射在晶圆的上表面上,从而可以有效清洗晶圆。当第一流体盘和第二流体盘内喷出的流体为氮气时,可以有效干燥晶圆的上表面和下表面,而且氮气可以有效去除晶圆的上表面和下表面上的残留水痕。
Public/Granted literature
- CN105470177B 晶圆清洗干燥装置 Public/Granted day:2018-09-07
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IPC分类: