发明授权
- 专利标题: 接触结构及其形成方法
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申请号: CN201410566325.6申请日: 2014-10-22
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公开(公告)号: CN105304556B公开(公告)日: 2018-07-17
- 发明人: 林瑀宏 , 林圣轩 , 张志维 , 周友华 , 许嘉麟
- 申请人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾新竹
- 专利权人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 当前专利权人: 台湾积体电路制造股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾新竹
- 代理机构: 北京德恒律治知识产权代理有限公司
- 代理商 章社杲; 李伟
- 优先权: 14/321,366 2014.07.01 US
- 主分类号: H01L21/768
- IPC分类号: H01L21/768
摘要:
本发明的实施例包括接触结构及其形成方法。一个实施例是形成半导体器件的方法,该方法包括:在衬底上方形成接触区域;在接触区域和衬底上方形成介电层;以及形成穿过介电层的开口以暴露接触区域的一部分。该方法还包括:在接触区域的暴露部分上以及沿着开口的侧壁形成金属硅化物层;以及用导电材料填充开口以在介电层中形成导电插塞,导电插塞电连接至接触区域。
公开/授权文献
- CN105304556A 接触结构及其形成方法 公开/授权日:2016-02-03
IPC分类: