发明公开
- 专利标题: 非易失性半导体存储装置
- 专利标题(英): Nonvolatile semiconductor storage device
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申请号: CN201380049900.9申请日: 2013-10-29
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公开(公告)号: CN104685572A公开(公告)日: 2015-06-03
- 发明人: 上田孝典 , 河野和幸 , 村久木康夫 , 中山雅义 , 石飞百合子 , 高桥桂太
- 申请人: 松下知识产权经营株式会社
- 申请人地址: 日本国大阪府
- 专利权人: 松下知识产权经营株式会社
- 当前专利权人: 松下半导体解决方案株式会社
- 当前专利权人地址: 日本国大阪府
- 代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司
- 代理商 齐秀凤
- 优先权: 2012-239342 2012.10.30 JP
- 国际申请: PCT/JP2013/006400 2013.10.29
- 国际公布: WO2014/068961 JA 2014.05.08
- 进入国家日期: 2015-03-25
- 主分类号: G11C13/00
- IPC分类号: G11C13/00 ; G11C11/15
摘要:
本申请提供一种非易失性半导体存储装置。存储器阵列(10)具备:由第一单元晶体管和变阻元件的串联连接所构成的变阻型存储器单元阵列(11)、以及由第二单元晶体管和电阻元件的串联连接所构成的参考单元阵列(12),参考单元阵列(12)的第二单元晶体管被连接至参考源极线(RSL),电阻元件被连接至参考位线(RBL),参考位线(RBL)在存储器单元阵列(11)内连接着虚拟存储器单元,虚拟存储器单元的变阻元件的两端被参考位线(RBL)短路。
公开/授权文献
- CN104685572B 非易失性半导体存储装置 公开/授权日:2017-05-10