本发明涉及一种用于利用X射线检测器(100)检测X射线辐射(R)的方法，所述X射线检测器具有直接转换的半导体检测器元件(150a,150b)，其中借助辐射源(210a,210b)将附加辐射(K)传送到半导体检测器元件(150a,150b),并且附加辐射(K)的传送基于预先给出的额定值(Ta,Tb,Tc)被控制或调节。特别地，额定值可以时间上可变地作为目标值的序列被预先给出。此外描述了一种X射线检测器系统(200)，利用所述X射线检测器系统可以执行该方法。