发明授权
- 专利标题: 半导体装置及其制造方法
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申请号: CN201280038386.4申请日: 2012-07-30
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公开(公告)号: CN103703566B公开(公告)日: 2017-05-17
- 发明人: 明田正俊 , 中野佑纪
- 申请人: 罗姆股份有限公司
- 申请人地址: 日本京都市
- 专利权人: 罗姆股份有限公司
- 当前专利权人: 罗姆股份有限公司
- 当前专利权人地址: 日本京都市
- 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 闫小龙; 王忠忠
- 优先权: 2011-169349 20110802 JP 2011-234058 20111025 JP 2011-273401 20111214 JP
- 国际申请: PCT/JP2012/069336 2012.07.30
- 国际公布: WO2013/018760 JA 2013.02.07
- 进入国家日期: 2014-01-30
- 主分类号: H01L29/739
- IPC分类号: H01L29/739 ; H01L21/28 ; H01L21/336 ; H01L27/04 ; H01L29/12 ; H01L29/41 ; H01L29/47 ; H01L29/78 ; H01L29/872
摘要:
本发明的半导体装置包括半导体芯片和MOSFET,该半导体芯片形成有SiC‑IGBT,该SiC‑IGBT包括:SiC半导体层;以在所述SiC半导体层的背面侧露出的方式形成的第一导电型的集电极区域;以与所述集电极区域相接的方式形成的第二导电型的基底区域;以与所述基底区域相接的方式形成的第一导电型的沟道区域;以与所述沟道区域相接的方式形成、并且形成所述SiC半导体层的所述表面的一部分的第二导电型的发射极区域;与所述集电极区域连接的集电极电极;该MOSFET包括与所述发射极电极电连接的第二导电型的源极区域以及与所述集电极电极电连接的第二导电型的漏极区域,并且与所述SiC‑IGBT并联连接。
公开/授权文献
- CN103703566A 半导体装置及其制造方法 公开/授权日:2014-04-02
IPC分类: