发明授权
- 专利标题: 电路测试系统及电路测试方法
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申请号: CN201210384861.5申请日: 2012-10-11
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公开(公告)号: CN103592594B公开(公告)日: 2016-04-20
- 发明人: 郑文昌
- 申请人: 南亚科技股份有限公司
- 申请人地址: 中国台湾桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号
- 专利权人: 南亚科技股份有限公司
- 当前专利权人: 南亚科技股份有限公司
- 当前专利权人地址: 中国台湾桃园县龟山乡华亚科技园区复兴三路669号
- 代理机构: 北京同立钧成知识产权代理有限公司
- 代理商 臧建明
- 优先权: 13/584,792 2012.08.13 US
- 主分类号: G01R31/28
- IPC分类号: G01R31/28
摘要:
本发明提供一种电路测试系统及电路测试方法,该电路测试系统包括电路测试设备以及待测试电路。电路测试设备提供第一时钟信号。待测试电路包括多个输入/输出垫以及至少一个时钟垫。输入/输出垫中的至少两个输入/输出垫相互连接以在测试模式期间形成测试回路。时钟垫接收第一时钟信号。待测试电路使第一时钟信号的频率倍增以产生第二时钟信号,且待测试电路的测试回路在测试模式期间基于第二时钟信号而测试。第二时钟信号的频率高于第一时钟信号的频率。此外,还提供前述电路测试系统的电路测试方法。
公开/授权文献
- CN103592594A 电路测试系统及电路测试方法 公开/授权日:2014-02-19