发明公开
CN102306629A 半导体装置的制造方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 半导体装置的制造方法
- 专利标题(英): Method of manufacturing a semiconductor device
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申请号: CN201110254200.6申请日: 2008-06-27
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公开(公告)号: CN102306629A公开(公告)日: 2012-01-04
- 发明人: 大沼英人 , 今林良太 , 饭洼阳一 , 牧野贤一郎 , 永松翔
- 申请人: 株式会社半导体能源研究所
- 申请人地址: 日本神奈川县
- 专利权人: 株式会社半导体能源研究所
- 当前专利权人: 株式会社半导体能源研究所
- 当前专利权人地址: 日本神奈川县
- 代理机构: 上海专利商标事务所有限公司
- 代理商 侯颖媖
- 优先权: 2007-173070 2007.06.29 JP
- 分案原申请号: 2008101273867 2008.06.27
- 主分类号: H01L21/336
- IPC分类号: H01L21/336 ; H01L21/265 ; H01L21/8238 ; H01L21/77 ; H01L51/40 ; H01L51/56
摘要:
本发明提供一种半导体装置的制造方法,包括以下工序:对半导体基板的一个表面照射离子,从而在离所述一个表面有一定深度的区域中形成脆化层;在所述一个表面上或支撑基板上形成绝缘层;将所述一个表面和所述支撑基板与所述绝缘层接合;加热所述半导体基板,以使所述脆化层中产生裂缝;在所述脆化层中分离所述半导体基板,从而在所述支撑基板上形成半导体层;对所述半导体层照射电磁波;在照射所述半导体层之后对所述半导体层表面进行研磨处理;使用所述半导体层形成半导体元件;在所述半导体元件上形成发光元件;以及在所述发光元件上形成彩色滤光片。
公开/授权文献
- CN102306629B 半导体装置的制造方法 公开/授权日:2015-08-19
IPC分类: