发明授权
- 专利标题: 半导体装置及其制造方法
- 专利标题(英): Semiconductor device and method for manufacturing the same
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申请号: CN201010134288.3申请日: 2010-03-04
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公开(公告)号: CN101826534B公开(公告)日: 2014-12-17
- 发明人: 木村肇
- 申请人: 株式会社半导体能源研究所
- 申请人地址: 日本神奈川县
- 专利权人: 株式会社半导体能源研究所
- 当前专利权人: 株式会社半导体能源研究所
- 当前专利权人地址: 日本神奈川县
- 代理机构: 上海专利商标事务所有限公司
- 代理商 刘佳
- 优先权: 2009-051857 2009.03.05 JP
- 主分类号: H01L27/12
- IPC分类号: H01L27/12 ; H01L23/528 ; H01L21/84 ; H01L21/768
摘要:
一种半导体装置及其制造方法,所述半导体装置包括:具有绝缘面的基板;设置在基板上的透光第一电极;设置在基板上的透光第二电极;设置为电连接于第一电极及第二电极的透光半导体层;电连接于第一电极的第一布线;至少覆盖半导体层而设置的绝缘层;设置在与半导体层重叠的区域的绝缘层上的透光第三电极;以及电连接于第三电极的第二布线。
公开/授权文献
- CN101826534A 半导体装置及其制造方法 公开/授权日:2010-09-08
IPC分类: