- 专利标题: 含逆槽沟、源极接地及源体短路电极的半导体器件及方法
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申请号: CN201010116465.5申请日: 2007-09-12
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公开(公告)号: CN101794776B公开(公告)日: 2011-12-21
- 发明人: 雷燮光 , 弗兰克斯·赫尔伯特 , 安荷·叭剌
- 申请人: 万国半导体股份有限公司
- 申请人地址: 百慕大哈密尔敦维多利亚街22号佳能院
- 专利权人: 万国半导体股份有限公司
- 当前专利权人: 重庆万国半导体科技有限公司
- 当前专利权人地址: 百慕大哈密尔敦维多利亚街22号佳能院
- 代理机构: 上海新天专利代理有限公司
- 代理商 王敏杰
- 优先权: 11/522,669 2006.09.17 US
- 分案原申请号: 2007101493913 2007.09.12
- 主分类号: H01L27/04
- IPC分类号: H01L27/04 ; H01L21/8234
摘要:
本发明为含逆槽沟、源极接地及源体短路电极的半导体器件及方法。本发明披露一种底源横向扩散式MOS(BS-LDMOS)器件。该器件的源区横向设置,跟半导体基底顶面附近的漏区相对,基底上支持的门极处于源区跟漏区之间。该BS-LDMOS器件还有一个结合的陷阱-沟道区,其在半导体基底中设置的深度完全低于体区,后者设置在接近顶面的源区附近,其中结合的陷阱-沟道区起埋置的源-体接点功能,从而将体区和源区电连接到基底的底面,起源电极的功能。将其漂移区设置在门极下面靠近顶面,跟源区有一段距离,并且延伸到包围漏区。该结合的陷阱-沟道区延伸到漂移区下面,并且该结合的陷阱-沟道区具有的掺杂剂的传导率跟漂移区的相反且补偿了漂移区,来减小源-漏电容。
公开/授权文献
- CN101794776A 含逆槽沟、源极接地及源体短路电极的半导体器件及方法 公开/授权日:2010-08-04
IPC分类: