发明授权
CN100593244C 形成图案的方法、薄膜晶体管、显示设备及其制造方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 形成图案的方法、薄膜晶体管、显示设备及其制造方法
- 专利标题(英): Pattern formation method, thin film transistor, display device and manufacturing method thereof
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申请号: CN200580008835.0申请日: 2005-03-16
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公开(公告)号: CN100593244C公开(公告)日: 2010-03-03
- 发明人: 前川慎志 , 城口裕子 , 藤井严
- 申请人: 株式会社半导体能源研究所
- 申请人地址: 日本神奈川
- 专利权人: 株式会社半导体能源研究所
- 当前专利权人: 株式会社半导体能源研究所
- 当前专利权人地址: 日本神奈川
- 代理机构: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所
- 代理商 秦晨
- 优先权: 081493/2004 2004.03.19 JP
- 国际申请: PCT/JP2005/005298 2005.03.16
- 国际公布: WO2005/091375 EN 2005.09.29
- 进入国家日期: 2006-09-19
- 主分类号: H01L29/786
- IPC分类号: H01L29/786 ; H01L29/423 ; H01L29/49 ; H01L21/288 ; H01L21/336 ; H01L21/8234 ; H01L21/8238 ; H01L27/088 ; H01L27/092 ; G02F1/13 ; G02F1/1368 ; G09F9/00
摘要:
根据本发明的一种形成图案的方法包括步骤:在具有透光性质的衬底上形成掩模;在衬底和掩模上形成具有包含光吸收材料的物质的第一区域;通过使用具有可由光吸收材料吸收的波长、通过衬底的光照射该物质以修改物质表面的一部分而形成第二区域;以及通过将包含图案形成材料的化合物排放到第二区域来形成图案。
公开/授权文献
- CN1934713A 形成图案的方法,薄膜晶体管,显示设备及其制造方法,以及电视设备 公开/授权日:2007-03-21
IPC分类: