METHODE POUR MESURER LA RESISTANCE DE FILMS
    3.
    发明申请
    METHODE POUR MESURER LA RESISTANCE DE FILMS 有权
    方法电阻器电阻膜

    公开(公告)号:US20140051108A1

    公开(公告)日:2014-02-20

    申请号:US13996960

    申请日:2011-12-11

    IPC分类号: C12Q1/02

    CPC分类号: C12Q1/02 C12Q1/025

    摘要: The present invention relates to a method for measuring the effect of a force on a film. In particular, the present invention relates to a method for measuring the effect of a mechanical, hydrodynamic or physical force, for example, on the integrity of a film, for example a film made of microorganisms, foodstuffs and/or chemical substances. The present invention is especially applicable to the fields of biology, chemistry, biotechnology and food processing.

    摘要翻译: 本发明涉及一种用于测量力对膜的影响的方法。 特别地,本发明涉及一种用于测量机械,流体动力或物理力的影响的方法,例如膜的完整性,例如由微生物,食品和/或化学物质制成的膜。 本发明特别适用于生物,化学,生物技术和食品加工领域。