公开(公告)号：US07808260B2

公开(公告)日：2010-10-05

申请号：US11885107

申请日：2006-02-16

申请人： Lich Thanh Tran ,  Edward Lambert Malantonio ,  Edward T. Laurent ,  Ilan Hanoon ,  Dan Mironescu

发明人： Lich Thanh Tran ,  Edward Lambert Malantonio ,  Edward T. Laurent ,  Ilan Hanoon ,  Dan Mironescu

IPC分类号： G01R31/02

CPC分类号： G01R1/06716 ,  G01R1/0675 ,  G01R1/07357

摘要： A probe configured for use in the testing of integrated circuits includes a first end portion terminating in a foot (42), the foot defining a substantially flat surface configured to be connected to a substrate (400), a second end portion terminating in a tip (50), the tip being configured to contact an integrated circuit during testing of the integrated circuit, and a curved body portion (56) extending between the first end portion and the second end portion.

摘要翻译： 构造成用于集成电路测试的探针包括终止于脚部（42）的第一端部部分，所述脚部限定基本上平坦的表面，所述基本上平坦的表面被配置为连接到基底（400），第二端部终止于尖端 （50），所述尖端构造成在所述集成电路的测试期间与集成电路接触，以及在所述第一端部和所述第二端部之间延伸的弯曲主体部分（56）。

公开(公告)号：US20080258746A1

公开(公告)日：2008-10-23

申请号：US11885107

申请日：2006-02-16

申请人： Lich Thanh Tran ,  Edward Lambert Malantonio ,  Edward T. Laurent ,  Ilan Hanoon ,  Dan Mironescu

发明人： Lich Thanh Tran ,  Edward Lambert Malantonio ,  Edward T. Laurent ,  Ilan Hanoon ,  Dan Mironescu

IPC分类号： G01R1/073

CPC分类号： G01R1/06716 ,  G01R1/0675 ,  G01R1/07357

摘要： A probe configured for use in the testing of integrated circuits includes a first end portion terminating in a foot (42), the foot defining a substantially flat surface configured to be connected to a substrate (400), a second end portion terminating in a tip (50), the tip being configured to contact an integrated circuit during testing of the integrated circuit, and a curved body portion (56) extending between the first end portion and the second end portion.

摘要翻译： 构造成用于集成电路测试的探针包括终止于脚部（42）的第一端部部分，所述脚部限定基本上平坦的表面，所述基本上平坦的表面被配置为连接到基底（400），第二端部终止于尖端 （50），所述尖端构造成在所述集成电路的测试期间与集成电路接触，以及在所述第一端部和所述第二端部之间延伸的弯曲主体部分（56）。