公开(公告)号：CN101877230B

公开(公告)日：2013-01-09

申请号：CN201010171551.6

申请日：2010-04-28

Applicant: 三洋电机株式会社

Inventor： 永富谦司

IPC: G11B7/09 ,  G11B7/133 ,  G11B7/1378

CPC classification number: G11B7/1378 ,  G11B7/0903 ,  G11B7/0912 ,  G11B7/094 ,  G11B7/133

Abstract: 本发明提供一种利用简单的结构去除杂光，并且能够抑制在跟踪误差信号中产生的DC成分的光拾取装置以及光盘装置。从通过盘片反射的激光中，对设定在激光光轴周围的四个光束区域(A～D)的光束分别施加不同的像散作用以及前进方向变更作用，从而使光束区域(A～D)的光束相互离散。在光检测器的检测面上出现只存在信号光的信号光区域。在该区域中配置八个传感器图案(P11～P18)。若设P17和P18的加算信号与P11和P12的加算信号之间的差信号为信号PP1，设P13和P14的加算信号与P15和P16的加算信号之间的差信号为信号PP2，则通过CPP＝PP1+k·PP2的运算而求出推挽信号。由此，能够抑制杂光的影响，并且得到抑制了DC成分的推挽信号。

公开(公告)号：CN103946921B

公开(公告)日：2016-09-28

申请号：CN201280056054.9

申请日：2012-10-24

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 篠田昌久 ,  大牧正幸 ,  中井贤也

IPC: G11B7/133 ,  G11B7/1353

CPC classification number: G11B7/1353 ,  G11B7/0903 ,  G11B7/094 ,  G11B7/133 ,  G11B2007/0013

Abstract: 光学头装置具有使来自光盘(OD)的返回光束透射衍射而射出透射衍射光束的衍射光学元件(21)、和光检测器(22)。衍射光学元件(21)包含具有0次衍射作用和±1次衍射作用的主衍射区域(210)、和具有0次衍射作用和±1次衍射作用的副衍射区域(211A、211B)。光检测器(22)包含接收透射衍射光束的0次光成分的主受光部(23)、和接收透射衍射光束的+1次光成分和－1次光成分中的一方的第1副受光部(24)。第1副受光部(24)具有在规定方向上排列的多个受光面。

公开(公告)号：CN102667930A

公开(公告)日：2012-09-12

申请号：CN201080052638.X

申请日：2010-11-18

Applicant: 三洋电机株式会社 ,  三洋光学设计株式会社

Inventor： 堀田彻 ,  川崎良一

IPC: G11B7/09 ,  G11B7/1275 ,  G11B7/13 ,  G11B7/133 ,  G11B7/22

CPC classification number: G11B7/0943 ,  G11B7/0906 ,  G11B7/0909 ,  G11B7/094 ,  G11B7/1275 ,  G11B7/131 ,  G11B7/133 ,  G11B7/22 ,  G11B2007/0006

Abstract: 本发明提供一种光拾取装置，其能够对由设在双波长激光二极管上的第1激光元件与第2激光元件之间的位置偏移为起因而产生的、设于光检测器的受光部的位置偏移进行修正。其中，该光拾取装置具有光检测器，该光检测器在同一个半导体基板上形成有供自第1光盘的信号记录层反射的返回光照射的第1受光部和供自第2光盘的信号记录层反射的返回光照射的第2受光部（8D），利用第1受光部调整上述光检测器的固定位置，并且在第2受光部（8D）上形成有用于对第1受光部与第2受光部（8D）的位置偏移进行电修正的位置偏移修正用受光部。

公开(公告)号：CN102005217B

公开(公告)日：2014-08-13

申请号：CN201010167259.7

申请日：2010-04-21

Applicant: 日立视听媒体股份有限公司

Inventor： 中村俊辉 ,  中井伸郎 ,  木村茂治

IPC: G11B7/133 ,  G11B7/1353 ,  G11B7/09

CPC classification number: G11B7/1381 ,  G11B7/0906 ,  G11B7/094 ,  G11B7/0943 ,  G11B7/133 ,  G11B2007/0013

Abstract: 本发明提供一种光拾取器装置和使用该装置的光盘装置，该光拾取器能够降低由多层光盘中的杂散光得到的检测信号的变动，能够稳定且高品质地进行记录再现。在由光盘反射的光束中，仅根据除去推挽区域后的周边部区域的光生成DPD信号，由此能够将光检测器受光面的内部连接优化，以比以往小的放大率实现DPP方式的跟踪误差信号时需要的透镜误差信号的信号放大。此外，配置光束的分割区域和受光面，以将反射光分割为多个区域，并使分割后的光束汇聚于光检测器的不同位置，并且焦点在目标层上汇聚时，来自其它层的记录层的杂散光不会入射到光检测器的伺服信号用受光面。由此抑制干扰成分被放大器放大而进行稳定且良好的信号检测。

公开(公告)号：CN101714365B

公开(公告)日：2012-10-10

申请号：CN200910204603.2

申请日：2009-09-29

Applicant: 三洋电机株式会社

Inventor： 永富谦司 ,  土屋洋一

IPC: G11B7/09 ,  G11B7/133 ,  G11B7/1353 ,  G11B7/1378

CPC classification number: G11B7/094 ,  G11B7/0901 ,  G11B7/0912 ,  G11B7/0943 ,  G11B7/133 ,  G11B7/1353 ,  G11B7/1378 ,  G11B2007/0013

Abstract: 光拾波器装置及光盘装置，能够用简单的结构抑制跟踪误差信号产生的DC成分，还能够有效地除去杂散光。使被光盘反射的激光中设定在激光光轴的周围的4个光束区域A～D的光束的行进方向变化，使光束区域A～D的光束互相离散。在光检出器的检出面上，出现只存在信号光的信号光区域。在该区域配置8个传感器P11～P18。如果将P17和P18的加法信号与P12和P13的加法信号的差分信号作为信号P11，将P13和P14的加法信号与P15和P16的加法信号的差分信号作为信号P12，那么就通过PP＝PP1-·PP2的运算，求出推挽信号。这样，能够抑制杂散光的影响，而且可以获得抑制了DC成分的推挽信号。

公开(公告)号：CN101490757B

公开(公告)日：2012-04-04

申请号：CN200780026253.4

申请日：2007-07-13

Applicant: 先锋株式会社

Inventor： 小笠原昌和 ,  柳泽琢磨 ,  小池克宏

IPC: G11B7/1376 ,  G11B7/09 ,  G11B7/131 ,  G11B7/133

CPC classification number: G11B7/1353 ,  G11B7/0909 ,  G11B7/131 ,  G11B7/133 ,  G11B7/1378 ,  G11B2007/0013

Abstract: 一种拾取装置包括照射光学系统以及检测光学系统，该照射光学系统包括用于将光通量聚焦在光学记录介质的记录表面的轨道上以形成束点的物镜，该光学记录介质具有多个层叠的记录层，在记录层之间夹有间隔层；该检测光学系统包括具有用于接收通过物镜从记录层反射的返回光以进行光电转换的多个光接收部的光检测器，该拾取装置根据从光接收部的输出计算出的电信号来控制所述物镜的位置。该拾取装置还包括：像散装置，其用于将像散提供到指向光接收部的返回光；以及分割装置，其具有被以返回光的光轴为中心在像散方向上延伸的分割线分割出的分割区，按照各个分割区进行分割，而沿着返回光的光轴，将具有像散的返回光分割为多个部分光通量。彼此相邻的分割区为所述部分光通量提供光学作用，使得在光接收部上不会发生相应的部分光通量之间的干扰。