滤除力矩马达对控制器反向干扰的方法

    公开(公告)号:CN106230399A

    公开(公告)日:2016-12-14

    申请号:CN201610597315.8

    申请日:2016-07-27

    发明人: 张谦 张颖姝

    IPC分类号: H03H1/02 H03K19/0175

    CPC分类号: H03H1/02 H03K19/017545

    摘要: 一种滤除力矩马达对控制器反向干扰的方法,通过改进滤波器与接口电路,在运算放大器N1与功率三极管V2之间的串连联接电容C2和电容C3,并且将电阻R5的一端连接在电容C2和电容C3之间的公共连接点上,将电阻R5的另一端接到电流反馈放大电路的负端,形成高频信号通路。在运算放大器N1与功率三极管V2之间的串连联接电阻R3和电阻R4,并且将电容C1的正极端连在电阻R3和电阻R4的公共连接点上,将电容C1负极端连接到电流反馈放大电路的负端,形成低频信号通路。本发明克服了现有技术中存在的液压控制系统虚警率过高的不足,对动态响应品质要求较高的电液伺服控制系统有比较明显的效果。

    一种基于LC谐振电路的片上电容校正方法

    公开(公告)号:CN106059523A

    公开(公告)日:2016-10-26

    申请号:CN201610247207.8

    申请日:2016-04-20

    IPC分类号: H03H1/02 H03H7/01

    摘要: 本发明属于移动通信技术领域,一种基于LC谐振电路的片上电容校正方法,包括开关电容阵列和逐次逼近逻辑控制电路,开关电容阵列与电感串联构成LC振荡电路,开关电容阵列的上端和电感的下端分别接交流电的输入端和输出端,开关电容阵列的上端接有第一检波器,电感的下端接有第二检波器,第一检波器和第二检波器的输出端接电压比较电路,电压比较电路连接逐次逼近逻辑控制电路,逐次逼近逻辑控制电路控制开关电容阵列的电容大小,本发明有益效果在于:利用LC震荡电路,对开关电容阵列进行校正,校正精度得到了提高,同时避免了对于电容充电的电流不恒定的问题。

    操作电路与RC校准方法
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101958695B

    公开(公告)日:2013-06-12

    申请号:CN200910210496.4

    申请日:2009-11-03

    IPC分类号: H03H1/02

    摘要: 提供一种操作电路与RC校准方法。操作电路包含:放大器,具有耦接参考电压的第一输入端;第一跨导元件,耦接放大器的输出端以选择性产生第一电流;第二跨导元件,耦接放大器的输出端以选择性产生第二电流;电阻性元件,具有耦接第一跨导元件的第一端;电容性元件,具有耦接第二跨导元件的第一端,电阻性电与电容性元件中至少一个是可调元件;切换装置,在第一模式下具有第一配置,将电容性元件连接至第二跨导元件,将电阻性元件连接至放大器,在第二模式下具有第二配置将电容性元件与第二跨导元件的连接断开,将放大器连接至电容性元件。藉此,本发明可对集成电路中的电阻与电容进行有效校准,同时能够节约集成电路的面积与成本。

    校准电路
    8.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103248357B

    公开(公告)日:2017-05-17

    申请号:CN201310051208.1

    申请日:2013-02-16

    IPC分类号: H03L1/00

    摘要: 本发明涉及一种校准电路。第一恒定电压被提供给开关电容器中的可变电容,并且可变电容在采样时钟的每个周期内被有效地充电至第一恒定电压。对通过给校准电阻充电生成的电流求平均,并且将所得到的电流与通过将第二恒定电压施加至电阻生成的电流相比较。根据比较的结果来调节可变电容的电容值。因此,可变电容被校准,以便具有目标值。

    一种片上电容校正装置和方法

    公开(公告)号:CN104009747A

    公开(公告)日:2014-08-27

    申请号:CN201310059540.2

    申请日:2013-02-26

    IPC分类号: H03K19/00

    摘要: 本发明公开了一种片上电容校正装置和方法,所述装置包括:已校正电阻、开关电容阵列、比较器电路、逻辑控制电路、以及一端接地、另一端与开关电容阵列相连的开关;具体的,输入电流I流经已校正电阻,产生电压V1;输入电流kI对开关电容阵列充电T时间,产生电压V2;比较器电路对V1与V2进行比较,并将比较结果输出至逻辑控制电路;逻辑控制电路在V1小于等于V2时,输出校正结束信号;否则,控制所述开关闭合,待所述开关电容阵列放电至零后,断开所述开关,以及控制所述开关电容阵列减小设定量的电容值后,重复上述充电、比较过程。本发明降低了比较器电路的难度,减小了电容阵列所需调试的范围,提高了电容校正的精度。