表面电荷测量
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103608671A

    公开(公告)日:2014-02-26

    申请号:CN201280027695.1

    申请日:2012-06-13

    Abstract: 本发明涉及用于确定表面性质的方法和装置。公开的实施例包括用于测量样品表面电荷的装置,包括:具有相对电极对的样品支架,样品支架配置为在电极之间的测量空间中的位置上支撑样品,以便样品的平表面校准为垂直于电极的表面;用于包含测量液体和具有开口端的测量腔,其配置为接纳样品支架,以将电极放置在预设定向上;激光光源,该激光光源放置并配置为当所述样品支架被接纳在测量腔中时,引导激光光束通过电极之间的测量腔并平行于样品的平表面;以及探测器,探测器放置并配置为探测来自测量腔的散射光,其中装置配置为允许用探测器在离样品的表面一段范围的距离上探测散射光。

    颗粒物性测量池和颗粒物性测量装置

    公开(公告)号:CN102401777A

    公开(公告)日:2012-04-04

    申请号:CN201110251703.8

    申请日:2011-08-29

    CPC classification number: G01N21/51 G01N2021/513

    Abstract: 本发明提供一种颗粒物性测量池和颗粒物性测量装置。所述颗粒物性测量池包括:有底筒形的池主体(21),形成沿长边方向延伸的内部空间(S1),并在一个端部(21x)开口;一对施加电极(22),在内部空间(S1)中相对配置;固定间隔件(23),通过夹在一对施加电极(22)之间,限定所述施加电极(22)之间的距离,并且固定一对施加电极(22)。在把固定间隔件(23)插入到池主体(21)内的状态下,在池主体(21)的内部空间(S1)的下部形成一对施加电极(22)露出的zeta电位测量空间(S2)。

    测量溶液中颗粒迁移率的方法和装置

    公开(公告)号:CN102192867A

    公开(公告)日:2011-09-21

    申请号:CN201110050936.1

    申请日:2011-02-25

    Abstract: 本发明的名称是测量溶液中颗粒迁移率的方法和装置。公开了用于测量溶液中颗粒和分子的电泳淌度的方法和装置。颗粒样品放置在包含施加交流电场的两个电极的池中。单色光光束穿过样品。当被颗粒散射的光离开池时,其与未散射的光束一起被聚集和准直。光束在自由空间中与相位调制的参比光束合并。干涉形成频率调制的散斑图样,其通过光检测器阵列检测。每个阵列元件聚集窄范围的界限分明的散射角。来自每一个的信号进行解调,以提取光学相位信息,提供散射颗粒的电泳淌度的第一原理性测量。每个检测器元件提供同时的独立测量。这种固有的平行性极大地增加了在给定时间可利用的信息量。

Patent Agency Ranking