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公开(公告)号：CN118937964A
公开(公告)日：2024-11-12
申请号：CN202411082416.2
申请日：2024-08-08
申请人： 南京微盟电子有限公司
摘要： 本发明涉及一种基于ATE测试机的低压差线性稳压器芯片批量测试方法，属于芯片测试技术领域。采用了本发明的LDO芯片批量测试方法，芯片测试单元实现芯片自动测试分选机和ATE自动测试机与待测芯片的连接，调用ATE自动测试机的测试资源，实现待测芯片的外观极性测试、电性能测试和外观缺陷测试，进一步的电性能测试包括：接触性测试；开短路测试；电流耐压功耗测试；输出电压功能及压差测试；电源抑制比和噪声测试；保护功能测试以及修调测试。从而实现了一种涵盖LDO类芯片的全部功能的，可应用于CP测试，FT测试，三温测试等芯片测试环节中的低压差线性稳压器(LDO)芯片批量测试方法。
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公开(公告)号：CN118897176A
公开(公告)日：2024-11-05
申请号：CN202410942285.4
申请日：2024-07-15
申请人： 南京微盟电子有限公司
摘要： 本发明涉及一种轨对轨全差分运放参数测试电路及测试方法，属于芯片测试技术领域。本发明利用全差分运放环路工作原理，通过开关切换闭环放大倍数电阻，根据闭环原理公式，利用系数变化计算出轨对轨全差分运放的失调电压，失调电流，测试准确度和闭环环路的匹配电阻阻值相关，保证闭环正负对称的电阻值相同，可以显著减少测试电路本身产生的测试偏差从而测试出准确的全差分运放失调电压和失调电流，进一步的还可以利用本发明测试运放偏置电流等参数。本发明方法简单实用，适用性广泛，易操作，准确度高等优点，可以通过变更环路电阻数值更改闭环放大倍数以适用不同量级的失调电压，失调电流以及偏置电流的测试。
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公开(公告)号：CN118860335A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202410895451.X
申请日：2024-07-05
申请人： 南京微盟电子有限公司
IPC分类号： G06F7/58
摘要： 本发明涉及信息安全技术领域，具体说是采用电源噪声放大的真随机数发生器。它包括第一振荡器、第二振荡器、去关联化模块、数据流寄存计数模块、数据后处理模块、同步器和计数状态产生器。第二振荡器含有环形压控振荡器，环形压控振荡器的偏置电压由噪声源产生。该发生器随机数生成的速率高，可满足高数据率需要的场合。
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公开(公告)号：CN117081555B
公开(公告)日：2024-05-07
申请号：CN202311145174.2
申请日：2023-09-06
申请人： 南京微盟电子有限公司
IPC分类号： H03K17/22
摘要： 本发明涉及一种复位电路，具体说是具有两级迟滞的高可靠性上电复位电路。它的特点是包括电源、一级迟滞电路、二级迟滞电路和输出电路。所述电源分别与一级迟滞电路和二级迟滞电路适配连接，用于为一级迟滞电路和二级迟滞电路提供驱动电压。所述一级迟滞电路与二级迟滞电路适配连接，二级迟滞电路与输出电路适配连接，偏置电压通过一级迟滞电路、二级迟滞电路产生控制信号、经过输出电路形成复位信号。该复位电路可避免出现不复位的问题，可靠性较好。
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公开(公告)号：CN117881042A
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202410216039.0
申请日：2024-02-27
申请人： 南京微盟电子有限公司
IPC分类号： H05B45/345
摘要： 本发明涉及驱动半导体行业LED驱动芯片技术领域，具体说是一种快速响应的恒流LED驱动电路。它的特点是包括运算放大器OP、恒流输出单元和保持单元；所述运算放大器OP与恒流输出单元适配连接，用于控制恒流输出单元恒流输出或关闭、同时确保恒流输出单元的工作电压为基准电压VREF；所述保持单元与运算放大器OP适配连接，用于在所述恒流输出单元关闭时，接收运算放大器OP的输出信号，确保运算放大器OP处于启动状态。该驱动电路的响应速度快，使用范围广。
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公开(公告)号：CN117169582A
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202310971318.3
申请日：2023-08-03
申请人： 南京微盟电子有限公司
IPC分类号： G01R19/175 , H02M1/00 , H02M3/158
摘要： 本发明提供一种过零检测电路，应用于电源管理芯片技术领域，包括sense模块，用于检测SW信号和PGND信号；offset模块，用于产生补偿电压，减小MOS管失调电压和比较延迟对检测精度的影响；compare模块，用于比较检测的PGND信号和SW信号，得出比较结果。还提供一种DCDC芯片，包括如上述的过零检测电路。该过零检测电路通过判断SW端口的电流流入MOS管的电压降与PGDN端口的电流流入MOS管的电压降来对电感电流进行过零检测，同时，通过offset模块提供补偿电压，提高检测精度。
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公开(公告)号：CN117081555A
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202311145174.2
申请日：2023-09-06
申请人： 南京微盟电子有限公司
IPC分类号： H03K17/22
摘要： 本发明涉及一种复位电路，具体说是具有两级迟滞的高可靠性上电复位电路。它的特点是包括电源、一级迟滞电路、二级迟滞电路和输出电路。所述电源分别与一级迟滞电路和二级迟滞电路适配连接，用于为一级迟滞电路和二级迟滞电路提供驱动电压。所述一级迟滞电路与二级迟滞电路适配连接，二级迟滞电路与输出电路适配连接，偏置电压通过一级迟滞电路、二级迟滞电路产生控制信号、经过输出电路形成复位信号。该复位电路可避免出现不复位的问题，可靠性较好。
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公开(公告)号：CN116660728A
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202310643134.4
申请日：2023-06-01
申请人： 南京微盟电子有限公司
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/26 , G01R19/165
摘要： 本发明涉及芯片测试领域，具体说是一种芯片测试中齐纳修调系统及方法。它包括由ATE测试机提供的VI源，探针组均并联在VI源的两端间，且VI源与探针组形成的环路上均有第一继电器开关和限流保护元件，且探针组均通过一个第一继电器开关与VI源相连。采用该系统可很好的保护芯片，操作简单，可靠性行好。
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公开(公告)号：CN116643143A
公开(公告)日：2023-08-25
申请号：CN202310278633.8
申请日：2023-03-21
申请人： 南京微盟电子有限公司
摘要： 本发明涉及芯片测试领域，具体说是基于ATE测试机的芯片全温度自动测试系统及方法。它包括ATE测试机，高低温测试箱，测试小板和温度采样装置。测试过程是：根据温敏电阻的规格书，找出温度值与电阻值的关系输入到ATE测试机中；再将芯片与测试小板相连，测试小板、温度采样装置与ATE测试机相连；之后，将测试小板和温度采样装置放入到高低温测试箱中，启动高低温测试箱；最后，待高低温测试箱内温度到达芯片测试的起始设定值，启动ATE测试机，温度数值与芯片的电压电流参数被ATE测试机同步记录即可。采用该系统及方法可大大提高测试效率，且可避免出现因人疏忽导致重新测试的问题。
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公开(公告)号：CN116599517A
公开(公告)日：2023-08-15
申请号：CN202310680026.4
申请日：2023-06-08
申请人： 南京微盟电子有限公司
IPC分类号： H03K19/0175
摘要： 本发明提供一种高速低功耗高压电平移位电路，应用于集成电路技术领域，包括：能够根据接收的输入信号Sig_IN导通相应的通路，从而相应地输出第一脉冲信号pulse1或第二脉冲信号pulse2的双脉冲产生电路；能够根据接收的双脉冲产生电路产生的脉冲信号导通相应的通路，并向双脉冲锁存电路传输相应的信号电平转换电路；用于将接收的信号进行锁存后再向双脉冲转换电平电路传输的双脉冲锁存电路；用于输出输出信号Sig_OUT的双脉冲转换电平电路。该高速低功耗高压电平移位电路，可以快速的实现高压电平移位，同时可以使用较大的上拉电阻，降低电阻上的转换损耗。
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