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公开(公告)号：CN118535498A
公开(公告)日：2024-08-23
申请号：CN202410623141.2
申请日：2024-05-20
申请人： 上海华虹集成电路有限责任公司
摘要： 本发明公开了一种Flash内存加速方法,其基于ART，包括：步骤1，使用总线地址的高位进行路预测，根据路预测的判断结果访问相应的存储区；所述存储区包括ART缓冲区Buf、ART预取缓冲区Prebuf、ART缓存Cache和闪存；步骤2，根据CPU指令地址取指方式决定读取对象及对应的读出写入更新操作；步骤3，根据LRU算法淘汰缓存指令。本发明能在高频系统中提升内核工作效率，可直接从缓冲中取指，避免了访问存器的等待时间，降低了指令缺失访存的代价。
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公开(公告)号：CN115912902A
公开(公告)日：2023-04-04
申请号：CN202310014332.4
申请日：2023-01-05
申请人： 上海华虹集成电路有限责任公司 , 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC分类号： H02M3/07 , H03K17/687
摘要： 本发明属于模拟集成电路设计领域，公开了一种交叉耦合电荷泵的衬底选择电路，包括开关对管电路、衬底选择电路、和输入时钟。输入时钟与开关对管电路连接，用于提供第一时钟信号和第二时钟信号。开关对管电路包含开关NMOS对管和开关PMOS对管，衬底选择电路与开关PMOS对管的衬底连接，用于将开关PMOS对管的衬底电位置为电路中最高的电位，提升开关PMOS对管阈值电压。本发明通过对交叉耦合电荷泵中开关PMOS对管衬底电位的置高，有效提高了交叉耦合电荷泵的效率及可靠性。
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公开(公告)号：CN107665159B
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN201610596521.7
申请日：2016-07-27
申请人： 上海华虹集成电路有限责任公司
发明人： 戴昭君
IPC分类号： G06F11/22
摘要： 本发明公开了一种安全处理器跳转指令固定执行时间的测试方法，编写嵌入式汇编程序，在固定跳转指令执行时间功能打开与关闭的情况下，执行跳转指令100次，分别使用计数器记录时间，根据规则比对时间。本发明能有效自动化测试,无人工干预。
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公开(公告)号：CN114545195A
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：CN202210025436.0
申请日：2022-01-11
申请人： 上海华虹集成电路有限责任公司 , 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明涉及芯片安全设计技术领域，公开了一种防拆检测方法及电路，包括检测配置单元、边沿检测单元和电平检测单元。检测配置单元可配置检测开关、检测模式、滤波次数、采样频率；边沿检测单元实现上升沿和下降沿检测电路：待检测信号经过二选一选择器和D触发器生成上升沿检测事件，待检测信号经过反相器、二选一选择器和D触发器生成下降沿检测事件；电平检测单元由计数单元和对比单元构成：计数单元1计数到配置采样频率的计数值后由对比单元1产生脉冲后作用到计数单元2，同时计数单元2依据检测电平计数到滤波次数配置值后由对比单元2产生有效检测事件。本发明提供的防拆检测方法解决了检测方式可配置性低，边沿检测误触发的问题。
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公开(公告)号：CN108881088B
公开(公告)日：2021-05-18
申请号：CN201810862043.9
申请日：2018-08-01
申请人： 上海华虹集成电路有限责任公司
发明人： 车小林
摘要： 本发明涉及无线通信技术领域，公开了一种卷积编码的高斯频移键控(GFSK)信号的联合解调和译码方法。通过对GFSK信号的相位进行近似，忽略相邻符号间的相位干扰，从而简化了路径度量的计算，使得路径度量的计算复杂度较低。根据卷积码的网格图，基于幸存路径处理的方法，计算每条幸存路径的路径度量。对于每条幸存路径，维持一个路径度量以及该幸存路径对应编码序列之和，编码序列之和用于构造分支上的发射GFSK信号。计算分支上的接收信号和对应发射信号的相关值获得该分支的分支度量。本发明的卷积编码GFSK信号的联合解调和译码方法，实现了卷积码的编码增益。与GFSK信号硬判决分离解调和译码方法相比，本发明的联合解调和译码方法可以获得明显的性能增益。
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公开(公告)号：CN112462247A
公开(公告)日：2021-03-09
申请号：CN202011264810.X
申请日：2020-11-13
申请人： 上海华虹集成电路有限责任公司
IPC分类号： G01R31/319 , G01R31/317 , G01R31/3183
摘要： 本发明公开了一种测量智能卡芯片EEPROM擦写电压的方法和电路，特别适用于在智能卡芯片的测试设备上实现对智能卡芯片EEPROM擦写电压进行精确测量。本发明通过采样EEPROM擦写电压的输出电流，并通过此电流计算出对应的内部损耗电压，然后补偿到采集到的EEPROM擦写电压的输出电压上，来得到准确的EEPROM擦写电压。本发明的测量电路不需要使用高于EEPROM擦写电压的供电电源，并降低了测量电路对EEPROM擦写电压输出的影响，提高对EEPROM擦除电压测量的准确度，降低因测量偏差造成的误判。特别试用于智能卡芯片的测试设备对智能卡芯片进行EEPROM筛选测试中判断EEPROM擦写电压是否达到合规范围。
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公开(公告)号：CN112363436A
公开(公告)日：2021-02-12
申请号：CN202011385590.6
申请日：2020-12-01
申请人： 上海华虹集成电路有限责任公司
IPC分类号： G05B19/042
摘要： 本发明公开了一体式测试终端设备及其控制方法。随着技术的日益发展，市面上使用支持可编程仪器命令的仪器设备越来越多，同时为后期提高效率减少人力与时间成本投入，提高仪器测试的自动化程度的需求也日益增加。由于自动化测试需要搭建测试环境，并根据测试场景的需求对支持可编程的仪器进行二次开发，前期需投入大量的时间和人力成本。本发明主要解决上述诉求，降低可编程仪器仪表的自动化测试门槛，且对比同类型产品具有低成本、高扩展性，便携等特点。
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公开(公告)号：CN112131109A
公开(公告)日：2020-12-25
申请号：CN202010992183.5
申请日：2020-09-21
申请人： 上海华虹集成电路有限责任公司
IPC分类号： G06F11/36 , G06F11/273 , G01R31/28
摘要： 本发明公开了基于Python的芯片自动化验证测试系统及方法，特别适用于低功耗MCU芯片的IP功能验证，接口电特性参数，芯片性能的自动化测试。本发明使用Python开发的PC端上位机框架，涵盖UART/SPI/I2C/芯片JTAG调试四种连接模式与自定义通讯协议，并以透传指令的形式直接对单个或多个待测板进行通信，对待测芯片进行测试验证。同时使用程控的方式对可编程测试设备进行自动化控制，配合透传指令与数据采集算法以实现对芯片的实时数据监控与采集。本发明简化了传统芯片IP功能的验证操作流程，可适用于复杂IP与测试项的芯片验证环境。
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公开(公告)号：CN106817151B
公开(公告)日：2020-09-08
申请号：CN201510846046.X
申请日：2015-11-27
申请人： 上海华虹集成电路有限责任公司
发明人： 范先奇
IPC分类号： H04B5/00
摘要： 本发明公开了一种读写器有源天线从模式发送及接收电路，包括：一mfin米勒脉冲滤波发送电路，一mfin米勒脉冲计数检测电路，一状态机转换和输出控制信号电路，一解码时钟同步电路，一mfout曼彻斯特码输出电路。利用读写器的mfin和mfout管脚，让主模式的读写器用mfout发送ISO14443协议TYPEA 106K米勒脉冲，而从模式的mfin实现接收并且数字滤波和发送到TX接口实现RF信号的发送，并且检测米勒脉冲是否发送完毕，根据状态机的跳转实现从模式读写器的发送到接收状态的切换，以实现准备接收来自卡片返回的数据，并且利用模拟接收解调的信号直接利用其mfout返回给主模式mfin进行数字解码，从而实现读写器与卡片交互的有源天线应用。
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公开(公告)号：CN111010267A
公开(公告)日：2020-04-14
申请号：CN201911110555.0
申请日：2019-11-14
申请人： 上海华虹集成电路有限责任公司
IPC分类号： H04L9/08
摘要： 本发明公开了一种基于随机数对芯片内部安全检测传感器信号进行加密的方法。加密方法在安全检测传感器发送端通过将传感器输出信号与随机源模块产生的随机数信号进行异或，实现对传感器输出信号的数据加密；而在接收端将接收到的加密数据与加密用的随机数进行异或操作，从而实现传感器数据的还原。本发明方法可以有效防止外部恶意攻击安全传感器检测电路，确保芯片使用更加安全、可靠。
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