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公开(公告)号:CN118730291A
公开(公告)日:2024-10-01
申请号:CN202410358507.8
申请日:2024-03-27
Applicant: TDK株式会社
Abstract: 本发明提供一种照射脉冲光后的输出的下降时间短的光检测装置及信号处理方法。该光检测装置具备:第1光电转换元件,其在被照射光脉冲时输出第1输出;以及第2光电转换元件,其在被照射所述光脉冲时输出第2输出。光检测装置构成为在满足第1条件和第2条件的状态下合成将相同的所述光脉冲照射于所述第1光电转换元件和所述第2光电转换元件时的由所述第1输出引起的第1信号和由所述第2输出引起的第2信号。所述第1条件为所述第1信号的峰的时间位置和所述第2信号的峰的时间位置不同这样的条件。所述第2条件为达到所述第1信号的峰的变化量的正负和达到所述第2信号的峰的变化量的正负不同这样的条件。
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公开(公告)号:CN119689618A
公开(公告)日:2025-03-25
申请号:CN202411321692.X
申请日:2024-09-23
Applicant: TDK株式会社
Abstract: 本发明提供一种超表面反射体,其具备:第一金属层及第二金属层,它们在第一方向上层叠;电介质层,其在第一方向上设置于第一金属层及第二金属层之间;保护层,其覆盖第二金属层的与电介质层为相反侧的表面,电介质层具有设置有第二金属层的主面,超表面反射体被区分为在沿着主面的第二方向、及沿着主面并且与第二方向交叉的第三方向上排列的多个单位区域,第二金属层包含设置于多个单位区域中的全部或一部分单位区域中的各个的金属单元,保护层由具有比构成第二金属层的金属大的标准电极电位的金属构成。
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公开(公告)号:CN116344656A
公开(公告)日:2023-06-27
申请号:CN202211547006.1
申请日:2022-12-05
Applicant: TDK株式会社
IPC: H01L31/09 , H01L31/0232 , H10N50/10 , H10N50/80
Abstract: 本发明提供一种新的光检测元件。该光检测元件具备磁性元件和光波导,所述磁性元件具有第一铁磁性层、第二铁磁性层、被所述第一铁磁性层和所述第二铁磁性层夹持的间隔层,所述光波导至少由芯和包覆所述芯的至少一部分的包层形成,在所述光波导中传播的光向所述磁性元件照射。
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公开(公告)号:CN119689614A
公开(公告)日:2025-03-25
申请号:CN202411321710.4
申请日:2024-09-23
Applicant: TDK株式会社
Abstract: 本发明提供一种超表面反射体,具备在第一方向上层叠的第一金属层及第二金属层、和在第一方向上设置于第一金属层及第二金属层之间的电介质层,电介质层具有设置有第二金属层的主面,超表面反射体被区分为在沿着主面的第二方向、及沿着主面并且与第二方向交叉的第三方向上排列的多个单位区域,第二金属层包含设置于多个单位区域中的全部或一部分单位区域中的各个的金属单元,在第二方向上排列的金属单元中的对相同波长设定的金属单元的第二方向上的长度互不相同。
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