公开(公告)号：CN101300628A

公开(公告)日：2008-11-05

申请号：CN200680040836.8

申请日：2006-12-20

Applicant: 三星电子株式会社 ,  TDK株式会社

Inventor： 裴在喆 ,  金朱镐 ,  黄仁吾 ,  朴贤洙 ,  福泽成敏 ,  菊川隆 ,  小林龙弘

IPC: G11B7/125

CPC classification number: G11B7/005 ,  G11B7/1267

Abstract: 一种确定记录在光学记录介质上的标记的最佳再现条件的方法，其中，至少一个所述标记的长度小于拾取器的分辨率。所述方法包括：获得具有接近于拾取器的分辨率的长度的标记的最佳再现条件；和使用获得的最佳再现条件确定标记的最佳再现条件。

公开(公告)号：CN101300624B

公开(公告)日：2011-02-02

申请号：CN200680040936.0

申请日：2006-12-20

Applicant: TDK株式会社

Inventor： 裴在喆 ,  金朱镐 ,  李坰根 ,  赵辉 ,  福泽成敏 ,  菊川隆 ,  小林龙弘

IPC: G11B7/0045

CPC classification number: G11B7/0062 ,  G11B7/00736 ,  G11B7/1267 ,  G11B20/10055

Abstract: 一种优化光记录介质的写入条件的方法，包括：在光记录介质上按照写入条件写入测试模式数据；将通过再现写入的测试模式数据检测的误差模式二进制信号与测试模式数据的校正模式二进制信号进行比较；以及基于比较的结果来确定光记录介质的最佳写入条件。

公开(公告)号：CN101300624A

公开(公告)日：2008-11-05

申请号：CN200680040936.0

申请日：2006-12-20

Applicant: 三星电子株式会社 ,  TDK株式会社

Inventor： 裴在喆 ,  金朱镐 ,  李坰根 ,  赵辉 ,  福泽成敏 ,  菊川隆 ,  小林龙弘

IPC: G11B7/0045

CPC classification number: G11B7/0062 ,  G11B7/00736 ,  G11B7/1267 ,  G11B20/10055

Abstract: 一种优化光记录介质的写入条件的方法，包括：在光记录介质上按照写入条件写入测试模式数据；将通过再现写入的测试模式数据检测的误差模式二进制信号与测试模式数据的校正模式二进制信号进行比较；以及基于比较的结果来确定光记录介质的最佳写入条件。