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1.

发明公开
红外线传感器芯片、红外线检测器以及其运行方法和测试方法有权

公开(公告)号：CN103026193A

公开(公告)日：2013-04-03

申请号：CN201280000480.0

申请日：2012-03-05

申请人： 韩国科学技术院

发明人： 金熙渊 , 金京珉 , 金炳日 , 庆箕明 , 朴宰弘 , 李贵鲁 , 金京泰

IPC分类号： G01J5/02 , G01J5/20 , H01L31/101

CPC分类号： G01J5/24 , G01J5/026 , G01J5/20 , H01L2224/48091 , H01L2224/48137 , H01L2224/49175 , H01L2924/1305 , H01L2924/13055 , H01L2924/1461 , H01L2924/3011 , H01L2924/00014 , H01L2924/00

摘要： 本发明提供一种红外线传感器芯片、红外线检测器以及其运行方法和测试方法。根据本发明的实施例，红外线传感器芯片包括：CMOS电路基板，其由有源矩阵、行线选择部和输出多路转换器构成；辐射热测量计，其层压于所述CMOS电路基板上，且由有源单元和参比单元构成，其中，为了在晶片或芯片状态下对所述辐射热测量计进行参数化测试，所述行线选择部选择所述辐射热测量计中作为施加电压的对象的单元，所述输出多路转换器部输出根据所述电压施加的电流特性。

2.

发明授权
红外线传感器芯片、红外线检测器以及其运行方法和测试方法有权

公开(公告)号：CN103026193B

公开(公告)日：2017-04-05

申请号：CN201280000480.0

申请日：2012-03-05

申请人： 韩国科学技术院

发明人： 金熙渊 , 金京珉 , 金炳日 , 庆箕明 , 朴宰弘 , 李贵鲁 , 金京泰

IPC分类号： G01J5/02 , G01J5/20 , H01L31/101

CPC分类号： G01J5/24 , G01J5/026 , G01J5/20 , H01L2224/48091 , H01L2224/48137 , H01L2224/49175 , H01L2924/1305 , H01L2924/13055 , H01L2924/1461 , H01L2924/3011 , H01L2924/00014 , H01L2924/00

摘要： 本发明提供一种红外线传感器芯片、红外线检测器以及其运行方法和测试方法。根据本发明的实施例，红外线传感器芯片包括：CMOS电路基板，其由有源矩阵、行线选择部和输出多路转换器构成；辐射热测量计，其层压于所述CMOS电路基板上，且由有源单元和参比单元构成，其中，为了在晶片或芯片状态下对所述辐射热测量计进行参数化测试，所述行线选择部选择所述辐射热测量计中作为施加电压的对象的单元，所述输出多路转换器部输出根据所述电压施加的电流特性。