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公开(公告)号：CN102608376A
公开(公告)日：2012-07-25
申请号：CN201210017294.X
申请日：2012-01-19
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
CPC classification number: G01R33/0017 , G01R31/2829 , G01R33/0035
Abstract: 本发明的目的在于提供与以往相比可靠性较高的能够自诊断的电子电路以及磁场检测装置。该电子电路具有：检测电路(21)；运算放大器(23)，使来自检测电路的检测信号放大；多路复用器(22)，连接在检测电路和运算放大器之间；以及微处理器(24)，对来自运算放大器的检测信号进行运算处理。并且，具有用于分别生成高电压的第一诊断信号和低电压的第二诊断信号的诊断电路(25)。诊断电路(25)与多路复用器(22)连接，由多路复用器(22)选择的各诊断信号(32、33)能够经由运算放大器(23)向微处理器(24)输入。在微处理器(24)中，能够基于第一诊断信号和第二诊断信号来诊断电子电路是否正常地起作用。
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公开(公告)号：CN106066460B
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201610245264.2
申请日：2016-04-19
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
IPC: G01R33/09
Abstract: 本发明提供一种即便存在铁磁体层的制造工序中的公差，也不产生角度误差且温度可靠性高的磁传感器。在将第一磁传感器元件中的第一铁磁性层以及第二铁磁性层的磁化量分别设为Mst11以及Mst12、将第二磁传感器元件中的第一铁磁性层以及第二铁磁性层的磁化量分别设为Mst21以及Mst22的情况下，满足如下所述的关系：在Mst11＞Mst12的情况下，Mst21＞Mst22；或者在Mst11＜Mst12的情况下，Mst21＜Mst22。
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公开(公告)号：CN106066460A
公开(公告)日：2016-11-02
申请号：CN201610245264.2
申请日：2016-04-19
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
IPC: G01R33/09
CPC classification number: G01R33/093 , G01R1/00 , G01R33/0052 , G01R33/098 , G11B3/00 , G11C5/00
Abstract: 本发明提供一种即便存在铁磁体层的制造工序中的公差，也不产生角度误差且温度可靠性高的磁传感器。在将第一磁传感器元件中的第一铁磁性层以及第二铁磁性层的磁化量分别设为Mst11以及Mst12、将第二磁传感器元件中的第一铁磁性层以及第二铁磁性层的磁化量分别设为Mst21以及Mst22的情况下，满足如下所述的关系：在Mst11＞Mst12的情况下，Mst21＞Mst22；或者在Mst11＜Mst12的情况下，Mst21＜Mst22。
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公开(公告)号：CN102608376B
公开(公告)日：2015-02-11
申请号：CN201210017294.X
申请日：2012-01-19
Applicant: 阿尔卑斯电气株式会社
CPC classification number: G01R33/0017 , G01R31/2829 , G01R33/0035
Abstract: 本发明的目的在于提供与以往相比可靠性较高的能够自诊断的电子电路以及磁场检测装置。该电子电路具有：检测电路(21)；运算放大器(23)，使来自检测电路的检测信号放大；多路复用器(22)，连接在检测电路和运算放大器之间；以及微处理器(24)，对来自运算放大器的检测信号进行运算处理。并且，具有用于分别生成高电压的第一诊断信号和低电压的第二诊断信号的诊断电路(25)。诊断电路(25)与多路复用器(22)连接，由多路复用器(22)选择的各诊断信号(32、33)能够经由运算放大器(23)向微处理器(24)输入。在微处理器(24)中，能够基于第一诊断信号和第二诊断信号来诊断电子电路是否正常地起作用。
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