能够自诊断的电子电路以及磁场检测装置

    公开(公告)号:CN102608376B

    公开(公告)日:2015-02-11

    申请号:CN201210017294.X

    申请日:2012-01-19

    CPC classification number: G01R33/0017 G01R31/2829 G01R33/0035

    Abstract: 本发明的目的在于提供与以往相比可靠性较高的能够自诊断的电子电路以及磁场检测装置。该电子电路具有:检测电路(21);运算放大器(23),使来自检测电路的检测信号放大;多路复用器(22),连接在检测电路和运算放大器之间;以及微处理器(24),对来自运算放大器的检测信号进行运算处理。并且,具有用于分别生成高电压的第一诊断信号和低电压的第二诊断信号的诊断电路(25)。诊断电路(25)与多路复用器(22)连接,由多路复用器(22)选择的各诊断信号(32、33)能够经由运算放大器(23)向微处理器(24)输入。在微处理器(24)中,能够基于第一诊断信号和第二诊断信号来诊断电子电路是否正常地起作用。

    角速度检测装置以及角速度的错误检测方法

    公开(公告)号:CN102608357A

    公开(公告)日:2012-07-25

    申请号:CN201210017257.9

    申请日:2012-01-19

    CPC classification number: G01P21/02

    Abstract: 目的在于提供一种对于伴随噪声所产生的角速度变化不进行错误检测而能够将因故障引起的角速度的异常变化与噪声区分来进行错误检测的角速度检测装置以及角速度的错误检测方法。本实施方式的角速度检测装置在加计数器中,当每隔“时间”算出的平均角速度“ASMAV(deg/s)”为例如3000deg/s以上时,加上3,并且小于3000deg/s时,减去1,以此求出第一计数值P。在减计数器中,当上述平均角速度“ASMAV(deg/s)”为例如-3000deg/s以下时,加上3,并且大于-3000deg/s时,减去1,以此求出第二计数值M。当各计数值超过规定的错误阈值(例如20)时判断为错误。

    角速度检测装置以及角速度的错误检测方法

    公开(公告)号:CN102608357B

    公开(公告)日:2014-07-02

    申请号:CN201210017257.9

    申请日:2012-01-19

    CPC classification number: G01P21/02

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种对于伴随噪声所产生的角速度变化不进行错误检测而能够将因故障引起的角速度的异常变化与噪声区分来进行错误检测的角速度检测装置以及角速度的错误检测方法。本实施方式的角速度检测装置在加计数器中,当每隔“时间”算出的平均角速度“ASMAV(deg/s)”为例如3000deg/s以上时,加上3,并且小于3000deg/s时,减去1,以此求出第一计数值P。在减计数器中,当上述平均角速度“ASMAV(deg/s)”为例如-3000deg/s以下时,加上3,并且大于-3000deg/s时,减去1,以此求出第二计数值M。当各计数值超过规定的错误阈值(例如20)时判断为错误。

    能够自诊断的电子电路以及磁场检测装置

    公开(公告)号:CN102608376A

    公开(公告)日:2012-07-25

    申请号:CN201210017294.X

    申请日:2012-01-19

    CPC classification number: G01R33/0017 G01R31/2829 G01R33/0035

    Abstract: 本发明的目的在于提供与以往相比可靠性较高的能够自诊断的电子电路以及磁场检测装置。该电子电路具有:检测电路(21);运算放大器(23),使来自检测电路的检测信号放大;多路复用器(22),连接在检测电路和运算放大器之间;以及微处理器(24),对来自运算放大器的检测信号进行运算处理。并且,具有用于分别生成高电压的第一诊断信号和低电压的第二诊断信号的诊断电路(25)。诊断电路(25)与多路复用器(22)连接,由多路复用器(22)选择的各诊断信号(32、33)能够经由运算放大器(23)向微处理器(24)输入。在微处理器(24)中,能够基于第一诊断信号和第二诊断信号来诊断电子电路是否正常地起作用。

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