一种三探针机器人纳米操纵系统及方法

    公开(公告)号:CN104528637A

    公开(公告)日:2015-04-22

    申请号:CN201510021712.6

    申请日:2015-01-16

    IPC分类号: B82B3/00 B82Y5/00

    摘要: 本发明涉及由三个探针组成的机器人纳米操纵系统及方法,其主要组成部分有:倒置或正置光学显微镜、光学检测模块、探针控制模块、力反馈模块及扫描器控制模块等。该系统装置的建立,可以实现在纳米尺度上,对特定物体的搬迁,操纵,切割,测试及重组等。其不仅适用于大气环境下,还可以应用于液相环境下,实现对生物细胞、蛋白质及DNA等的操纵。本发明目的在于使用三个探针组成的纳米操纵装置改进现有使用单/双探针纳米操纵装置的操纵方法而提出的一种不但能得到样品的形貌图像,还能通过两个探针对被操纵物体的夹取和另一个探针的操纵相配合,实现对任意形状被操纵物体的搬迁,操纵,切割,测试及重组等的方法。

    一种磁力显微镜探针磁性污染的清洗方法

    公开(公告)号:CN104492760B

    公开(公告)日:2016-08-17

    申请号:CN201510021718.3

    申请日:2015-01-16

    IPC分类号: B08B7/00

    摘要: 本发明公开了一种磁力显微镜探针磁性污染的清洗方法,包括下列步骤:(1)将BOOP薄膜固定在强磁铁的上面,并将磁铁放于样品台上;(2)按照常规方法对固定在磁铁上方的BOPP薄膜成像,选取一处较为平坦的区域作为目标区域;(3)在目标区域驱动探针使针尖压入BOPP薄膜并停留;(4)驱动探针离开BOOP膜,重复压入和退针动作。本发明操作简单,耗时少,并能够有效去除粘连在针尖上的磁性污染物,重复使用污染被清除后的探针。

    一种三探针机器人纳米操纵系统及方法

    公开(公告)号:CN104528637B

    公开(公告)日:2016-06-08

    申请号:CN201510021712.6

    申请日:2015-01-16

    IPC分类号: B82B3/00 B82Y5/00

    摘要: 本发明涉及由三个探针组成的机器人纳米操纵系统及方法,其主要组成部分有:倒置或正置光学显微镜、光学检测模块、探针控制模块、力反馈模块及扫描器控制模块等。该系统装置的建立,可以实现在纳米尺度上,对特定物体的搬迁,操纵,切割,测试及重组等。其不仅适用于大气环境下,还可以应用于液相环境下,实现对生物细胞、蛋白质及DNA等的操纵。本发明目的在于使用三个探针组成的纳米操纵装置改进现有使用单/双探针纳米操纵装置的操纵方法而提出的一种不但能得到样品的形貌图像,还能通过两个探针对被操纵物体的夹取和另一个探针的操纵相配合,实现对任意形状被操纵物体的搬迁,操纵,切割,测试及重组等的方法。

    一种磁力显微镜探针磁性污染的清洗方法

    公开(公告)号:CN104492760A

    公开(公告)日:2015-04-08

    申请号:CN201510021718.3

    申请日:2015-01-16

    IPC分类号: B08B7/00

    CPC分类号: B08B7/00

    摘要: 本发明公开了一种磁力显微镜探针磁性污染的清洗方法,包括下列步骤:(1)将BOOP薄膜固定在强磁铁的上面,并将磁铁放于样品台上;(2)按照常规方法对固定在磁铁上方的BOPP薄膜成像,选取一处较为平坦的区域作为目标区域;(3)在目标区域驱动探针使针尖压入BOPP薄膜并停留;(4)驱动探针离开BOOP膜,重复压入和退针动作。本发明操作简单,耗时少,并能够有效去除粘连在针尖上的磁性污染物,重复使用污染被清除后的探针。