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发明公开
一种非对称瞬态抑制二极管的测量方法审中-实审

公开(公告)号：CN119644088A

公开(公告)日：2025-03-18

申请号：CN202411841081.8

申请日：2024-12-13

Applicant: 重庆平伟实业股份有限公司

Inventor： 李春来 , 邓令 , 陈家辉 , 谢茂 , 赵军权 , 罗小龙 , 易光绪

IPC: G01R31/26

Abstract: 本申请提供一种非对称瞬态抑制二极管的测量方法，该方法包括：提供多个非对称瞬态抑制二极管，并对每个瞬态二极管进行定位，分别对每个非对称瞬态抑制二极管中单侧二极管进行两次性能测试，对每次性能测试后的多个非对称瞬态抑制二极管进行筛选，以得到目标非对称瞬态抑制二极管。本申请提供的非对称瞬态抑制二极管的测量方法实现多次检验、使出货质量得到有效保证，对测试线路进行修改从而实现非对称瞬态抑制二极管产品的测试，降低成本，且测试准确率高，可进行量产，应用范围广。

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