-
公开(公告)号：CN114838823A
公开(公告)日：2022-08-02
申请号：CN202210410648.0
申请日：2022-04-19
Applicant: 重庆川仪自动化股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种基于扫描光栅微镜光谱仪的光谱信息重构方法、系统，该方法通过获取扫描光栅微镜光谱仪的待重构数据，根据扫描速度反馈信号、预设长度和预设时间间隔生成位置序列，根据光源特征峰波长值和各位置序列值生成各位置序列值对应的重构波长，基于各位置序列值对应的重构波长和光强信号生成扫描光栅微镜光谱仪的重构光谱信息，通过光谱信息重构方法，可以在基于扫描光栅微镜的微型近红外光谱仪系统设计中，通过对单管光电探测器光强信号和扫描光栅微镜的扫描速度反馈信号的结合，生成重构光谱信息，能够直接反映出用户需要的光谱信息，满足用户需求。
-
公开(公告)号：CN114184547A
公开(公告)日：2022-03-15
申请号：CN202111434331.2
申请日：2021-11-29
Applicant: 重庆川仪自动化股份有限公司
Abstract: 一种基于双闭环的扫描光栅微镜机械摆角的控制方法，包括以下步骤：S1，在扫描光栅微镜控制系统中设定扫描光栅微镜的目标机械摆角值θset；S2，通过扫描光栅微镜控制系统采集扫描光栅微镜的电压驱动信号VO和机械摆角的电压反馈信号Vθ；S3，计算相关系数，计算S2采集的电压驱动信号VO与电压反馈信号Vθ的相关系数；S4，根据S3计算的相关系数，将电压驱动信号的频率调整至扫描光栅微镜谐振频率的误差范围内；S5，根据机械摆角的电压反馈信号Vθ计算扫描光栅微镜的实际机械摆角值θ；S6，根据扫描光栅微镜的实际机械摆角值θ与目标机械摆角值θset之间的偏差及偏差变化率，通过模糊PID控制器调整电压驱动信号的幅值。
-
公开(公告)号：CN114184547B
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202111434331.2
申请日：2021-11-29
Applicant: 重庆川仪自动化股份有限公司
Abstract: 一种基于双闭环的扫描光栅微镜机械摆角的控制方法，包括以下步骤：S1，在扫描光栅微镜控制系统中设定扫描光栅微镜的目标机械摆角值θset；S2，通过扫描光栅微镜控制系统采集扫描光栅微镜的电压驱动信号VO和机械摆角的电压反馈信号Vθ；S3，计算相关系数，计算S2采集的电压驱动信号VO与电压反馈信号Vθ的相关系数；S4，根据S3计算的相关系数，将电压驱动信号的频率调整至扫描光栅微镜谐振频率的误差范围内；S5，根据机械摆角的电压反馈信号Vθ计算扫描光栅微镜的实际机械摆角值θ；S6，根据扫描光栅微镜的实际机械摆角值θ与目标机械摆角值θset之间的偏差及偏差变化率，通过模糊PID控制器调整电压驱动信号的幅值。
-
公开(公告)号：CN113820014B
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202110834238.4
申请日：2021-07-21
Applicant: 重庆川仪自动化股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种基于扫描光栅微镜光谱仪的光强校准方法、系统及光谱仪，该方法通过获取若干组扫描光栅微镜的扫描速度和单管探测器的检测光强，根据各个扫描速度、预设出射狭缝宽度分别确定各个扫描速度所对应的初始光强积分时间，并对该初始光强积分时间进行归一化处理，得到归一化光强积分时间，根据归一化光强积分时间和与该归一化光强积分时间所对应的检测光强确定校准光强，以实现检测光强的校准，增强了基于扫描光栅微镜的光谱仪光强信号准确性、一致性。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113984208A
公开(公告)日：2022-01-28
申请号：CN202111250190.9
申请日：2021-10-26
Applicant: 重庆川仪自动化股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种光谱仪波长标定方法、系统、介质及电子终端，方法包括：预先设置标定光源，获取光谱仪输出的所述标定光源的光谱数据；对所述光谱数据进行峰值信息提取，获取所述光谱数据中的第一峰值信息，进行峰值信息提取的步骤包括：平滑处理、差分处理和插值处理；根据预设的拟合阶数，对所述第一峰值信息与对应的标定光源的第二峰值信息进行拟合，获取波长标定系数；将所述波长标定系数传输至光谱仪，完成光谱仪波长标定；本发明中的光谱仪波长标定方法、系统、介质及电子终端，实现了对光谱仪波长的自动标定，准确率较高，波长标定效率较高，稳定性较强。
-
公开(公告)号：CN113820014A
公开(公告)日：2021-12-21
申请号：CN202110834238.4
申请日：2021-07-21
Applicant: 重庆川仪自动化股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种基于扫描光栅微镜光谱仪的光强校准方法、系统及光谱仪，该方法通过获取若干组扫描光栅微镜的扫描速度和单管探测器的检测光强，根据各个扫描速度、预设出射狭缝宽度分别确定各个扫描速度所对应的初始光强积分时间，并对该初始光强积分时间进行归一化处理，得到归一化光强积分时间，根据归一化光强积分时间和与该归一化光强积分时间所对应的检测光强确定校准光强，以实现检测光强的校准，增强了基于扫描光栅微镜的光谱仪光强信号准确性、一致性。
-
公开(公告)号：CN113984208B
公开(公告)日：2024-05-31
申请号：CN202111250190.9
申请日：2021-10-26
Applicant: 重庆川仪自动化股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种光谱仪波长标定方法、系统、介质及电子终端，方法包括：预先设置标定光源，获取光谱仪输出的所述标定光源的光谱数据；对所述光谱数据进行峰值信息提取，获取所述光谱数据中的第一峰值信息，进行峰值信息提取的步骤包括：平滑处理、差分处理和插值处理；根据预设的拟合阶数，对所述第一峰值信息与对应的标定光源的第二峰值信息进行拟合，获取波长标定系数；将所述波长标定系数传输至光谱仪，完成光谱仪波长标定；本发明中的光谱仪波长标定方法、系统、介质及电子终端，实现了对光谱仪波长的自动标定，准确率较高，波长标定效率较高，稳定性较强。
-
公开(公告)号：CN117310281A
公开(公告)日：2023-12-29
申请号：CN202210716006.3
申请日：2022-06-22
Applicant: 重庆川仪自动化股份有限公司
IPC: G01R25/00
Abstract: 本申请提出一种电路相位差检测方法及系统，包括：获取一组同频正弦信号在预设相位范围内的相位差序列以及每个相位差的相关系数；对所述相位序列进行拟合，得到相位差与相关系数的对应关系；获取第一待测信号和第二待测信号；分别对所述第一待测信号和所述第二待测信号进行采样，得到对应的第一采样序列和第二采样序列；根据所述第一采样序列和所述第二采样序列确定所述第一待测信号和所述第二待测信号的相关系数作为第一系数；根据所述第一系数以及所述相位差与相关系数的对应关系，得到所述第一电路和所述第二电路的相位差。本申请计算量少且可保证相位差检测精度。
-
公开(公告)号：CN114838823B
公开(公告)日：2025-04-04
申请号：CN202210410648.0
申请日：2022-04-19
Applicant: 重庆川仪自动化股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种基于扫描光栅微镜光谱仪的光谱信息重构方法、系统，该方法通过获取扫描光栅微镜光谱仪的待重构数据，根据扫描速度反馈信号、预设长度和预设时间间隔生成位置序列，根据光源特征峰波长值和各位置序列值生成各位置序列值对应的重构波长，基于各位置序列值对应的重构波长和光强信号生成扫描光栅微镜光谱仪的重构光谱信息，通过光谱信息重构方法，可以在基于扫描光栅微镜的微型近红外光谱仪系统设计中，通过对单管光电探测器光强信号和扫描光栅微镜的扫描速度反馈信号的结合，生成重构光谱信息，能够直接反映出用户需要的光谱信息，满足用户需求。
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
9
records
(took 0.025 seconds)
