-
公开(公告)号：CN112946342A
公开(公告)日：2021-06-11
申请号：CN202110099924.1
申请日：2021-01-25
Applicant: 重庆大学
IPC: G01R19/00
Abstract: 本发明公开了一种基于电光聚合物和微环谐振器的电压测量系统，所述系统包括：自下而上层叠设置的硅衬底层、二氧化硅下包层和单晶硅芯层，其中，所述单晶硅芯层包括耦合的直波导和环形波导，所述直波导的两端分别用于输入光和输出光；以及覆盖在所述环形波导上的电光聚合物薄膜，其中，所述电光聚合物薄膜的有效折射率在被测电压作用下发生改变时，所述环形波导的有效折射率相应发生改变，使所述直波导的输出光的谐振波长发生漂移，以实现对所述被测电压的测量。本发明还公开了一种基于电光聚合物和微环谐振器的电压测量系统的测量方法。本发明利用电光聚合物的电光性能和微环谐振器的谐振特性，基于光电效应实现电压的实时感知测量。
-
公开(公告)号：CN112924741A
公开(公告)日：2021-06-08
申请号：CN202110099932.6
申请日：2021-01-25
Applicant: 重庆大学
Abstract: 本发明公开了一种基于微环耦合马赫曾德尔结构的电压测量系统，包括：自下而上依次键合的硅衬底层、二氧化硅层和顶硅层，顶硅层包括输入波导、Y型分束器、耦合的第一环形波导和第一直波导、耦合的第二环形波导和第二直波导、Y型耦合器和输出波导；以及覆盖在第一环形波导上的电光聚合物薄膜，电光聚合物薄膜的有效折射率在被测电压作用下发生改变时，第一环形波导的有效折射率相应发生改变，使第一直波导和第二直波导的输出光之间产生相位差，实现对被测电压的测量。本发明还公开了一种基于微环耦合马赫曾德尔结构的电压测量系统的测量方法。本发明利用电光聚合物的电光性能和微环马赫曾德尔结构的谐振特性，基于电光效应实现电压实时感知测量。
-
公开(公告)号：CN112924741B
公开(公告)日：2022-03-11
申请号：CN202110099932.6
申请日：2021-01-25
Applicant: 重庆大学
Abstract: 本发明公开了一种基于微环耦合马赫曾德尔结构的电压测量系统，包括：自下而上依次键合的硅衬底层、二氧化硅层和顶硅层，顶硅层包括输入波导、Y型分束器、耦合的第一环形波导和第一直波导、耦合的第二环形波导和第二直波导、Y型耦合器和输出波导；以及覆盖在第一环形波导上的电光聚合物薄膜，电光聚合物薄膜的有效折射率在被测电压作用下发生改变时，第一环形波导的有效折射率相应发生改变，使第一直波导和第二直波导的输出光之间产生相位差，实现对被测电压的测量。本发明还公开了一种基于微环耦合马赫曾德尔结构的电压测量系统的测量方法。本发明利用电光聚合物的电光性能和微环马赫曾德尔结构的谐振特性，基于电光效应实现电压实时感知测量。
-
-
Search Results
3
records
(took 0.018 seconds)
