公开(公告)号：CN104737033A

公开(公告)日：2015-06-24

申请号：CN201380042145.1

申请日：2013-08-08

Applicant: 通用电气公司

Inventor： J·Z·刘 ,  D·E·巴克

IPC: G01T1/24

CPC classification number: G01T1/2018 ,  G01T1/2002 ,  G01T1/244

Abstract: 根据一个实施例，提供一种数字X射线检测器。该检测器包括闪烁体层，其配置成吸收从辐射源发射的辐射并且响应于吸收的辐射发出光量子。该检测器还包括互补金属氧化物半导体(CMOS)光成像仪，其配置成吸收由闪烁体层发出的光量子。CMOS光成像仪包括第一表面和第二表面，并且第一表面与第二表面相对布置。闪烁体层接触CMOS光成像仪的第一表面。

公开(公告)号：CN101551462A

公开(公告)日：2009-10-07

申请号：CN200910118727.9

申请日：2009-01-09

Applicant: 通用电气公司

Inventor： D·阿尔巴利 ,  A·J·库图尔 ,  W·A·亨尼西 ,  K·S·库姆普 ,  F·高 ,  J·Z·刘

IPC: G01T1/20 ,  A61B6/00

CPC classification number: H01L27/14663 ,  H01L27/14609 ,  H01L27/14636 ,  H04N5/357 ,  H04N5/374

Abstract: 一种双功能探测器装置，其以普通操作模式或EMI校正模式操作以抑制探测器(33)中的EMI效应。探测器装置(33)可是用在成像系统中的平板x射线探测器。所述装置具有像素构造(60)和板读出技术，该板读出技术能实时的、高空间频率的对由数字x射线探测器(33)上的电磁辐射产生的噪声进行测量。所述测量可用于实时校准探测器以获得所有环境中的无伪影图像，包括那些包含时间和空间变化电磁场的。

公开(公告)号：CN101551462B

公开(公告)日：2013-09-18

申请号：CN200910118727.9

申请日：2009-01-09

Applicant: 通用电气公司

Inventor： D·阿尔巴利 ,  A·J·库图尔 ,  W·A·亨尼西 ,  K·S·库姆普 ,  F·高 ,  J·Z·刘

IPC: G01T1/20 ,  A61B6/00

CPC classification number: H01L27/14663 ,  H01L27/14609 ,  H01L27/14636 ,  H04N5/357 ,  H04N5/374

Abstract: 一种双功能探测器装置，其以普通操作模式或EMI校正模式操作以抑制探测器(33)中的EMI效应。探测器装置(33)可是用在成像系统中的平板x射线探测器。所述装置具有像素构造(60)和板读出技术，该板读出技术能实时的、高空间频率的对由数字x射线探测器(33)上的电磁辐射产生的噪声进行测量。所述测量可用于实时校准探测器以获得所有环境中的无伪影图像，包括那些包含时间和空间变化电磁场的。