公开(公告)号：CN101551462B

公开(公告)日：2013-09-18

申请号：CN200910118727.9

申请日：2009-01-09

Applicant: 通用电气公司

Inventor： D·阿尔巴利 ,  A·J·库图尔 ,  W·A·亨尼西 ,  K·S·库姆普 ,  F·高 ,  J·Z·刘

IPC: G01T1/20 ,  A61B6/00

CPC classification number: H01L27/14663 ,  H01L27/14609 ,  H01L27/14636 ,  H04N5/357 ,  H04N5/374

Abstract: 一种双功能探测器装置，其以普通操作模式或EMI校正模式操作以抑制探测器(33)中的EMI效应。探测器装置(33)可是用在成像系统中的平板x射线探测器。所述装置具有像素构造(60)和板读出技术，该板读出技术能实时的、高空间频率的对由数字x射线探测器(33)上的电磁辐射产生的噪声进行测量。所述测量可用于实时校准探测器以获得所有环境中的无伪影图像，包括那些包含时间和空间变化电磁场的。

公开(公告)号：CN101551462A

公开(公告)日：2009-10-07

申请号：CN200910118727.9

申请日：2009-01-09

Applicant: 通用电气公司

Inventor： D·阿尔巴利 ,  A·J·库图尔 ,  W·A·亨尼西 ,  K·S·库姆普 ,  F·高 ,  J·Z·刘

IPC: G01T1/20 ,  A61B6/00

CPC classification number: H01L27/14663 ,  H01L27/14609 ,  H01L27/14636 ,  H04N5/357 ,  H04N5/374

Abstract: 一种双功能探测器装置，其以普通操作模式或EMI校正模式操作以抑制探测器(33)中的EMI效应。探测器装置(33)可是用在成像系统中的平板x射线探测器。所述装置具有像素构造(60)和板读出技术，该板读出技术能实时的、高空间频率的对由数字x射线探测器(33)上的电磁辐射产生的噪声进行测量。所述测量可用于实时校准探测器以获得所有环境中的无伪影图像，包括那些包含时间和空间变化电磁场的。