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公开(公告)号：CN1991575B
公开(公告)日：2011-01-19
申请号：CN200610064160.8
申请日：2006-12-15
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01T1/2014
Abstract: 提供了一种用于对对象(16)成像的计算机放射摄影(CR)系统(10)。该系统包括辐射源(12)、存储荧光屏(14)、照明源(18)和二维成像器(20)。辐射源设置成照射存储荧光屏，并且存储荧光屏设置成存储辐射能量。照明源设置成照明存储荧光屏的至少一个子区域以便激励光子从存储荧光屏发射。二维(2D)成像器设置成利用激励发射光子从存储荧光屏捕获二维图像。存储荧光屏(14)进一步设置成在照射时发射即时发射光子，并且2D成像器(20)进一步设置成从存储荧光屏(14)接收即时发射光子。
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公开(公告)号：CN1837795B
公开(公告)日：2012-05-16
申请号：CN200610067378.9
申请日：2006-03-24
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01T1/2018 , H01L27/14658
Abstract: 一种探测器组件(10)，其包括与像素阵列(14)直接相连的射线转化层(12)，所述射线转化层用于接收穿过物体的射线。所述像素阵列用于接收由“射线转化”层直接发射的射线或来自于可选的中间光生成层(16)的相应的光信号中的一种，并且该像素阵列进一步用于生成与所述物体相应的图像。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101646748A
公开(公告)日：2010-02-10
申请号：CN200880009906.2
申请日：2008-01-24
Applicant: 通用电气公司
Inventor： S·P·M·卢雷罗 , J·S·瓦图利 , B·A·克罗蒂尔 , S·J·杜克洛斯 , M·马诺哈兰 , P·R·L·马伦范特 , V·S·文卡塔拉马尼 , C·比诺 , A·斯里瓦斯塔瓦 , S·J·斯托克洛萨
Abstract: 提供包括嵌在塑料基质中的闪烁化合物纳米尺寸颗粒的闪烁检测器。所述纳米尺寸颗粒可以由金属氧化物、金属卤氧化物、金属硫氧化物或金属卤化物制成。提供了制备所述纳米尺寸颗粒的方法。所述颗粒在结合到所述塑料基质中之前可被涂以有机化合物或聚合物。还提供通过引入二氧化钛纳米尺寸颗粒来使塑料基质的折射率与所述纳米尺寸颗粒相匹配的方法。可将所述闪烁体与一或多个光电检测器联接以形成闪烁检测系统。所述闪烁检测系统可适用于X射线和辐射成像装置如数字X射线成像、乳房造影术、CT、PET或SPECT，或者可用于辐射安全检测器或地下辐射探测器。
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公开(公告)号：CN102539456A
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN201110437105.X
申请日：2011-12-15
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01N23/02 , A61B6/4028 , G01N23/044 , G01N2223/419 , H01J2235/068
Abstract: 本发明名称为用于分层照相检验的方法和设备。在一些实施例中，一种成像系统(10)包括：多焦点X射线源(14)，其配置成生成至少两个X射线束(26)并将每个生成的X射线束(26)以不同角度逐个向视场投射，而基本不旋转或平移多焦点X射线源(14)。系统(10)还可包括与多焦点X射线源(14)相对的检测器(20)，它与视场相关并配置成接收从每个不同角度投射的X射线束(26)的至少一部分，以及产生对应于每个不同角度的、视场的至少两个X射线投影图像，其中每个X射线投影图像配置成互相相对移动并相加，以重构视场的平面。
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公开(公告)号：CN101349654A
公开(公告)日：2009-01-21
申请号：CN200710142162.9
申请日：2007-07-20
Applicant: 通用电气公司
Abstract: 提供一种检测器组件(14)。该检测器组件(14)包括可配置的x射线检测器(20)，具有不大于10.2厘米(cm)×10.2厘米(cm)的面积；和嵌入控制器(22)，耦合到可配置的x射线检测器(20)并被构造以用来控制可配置的x射线检测器(20)和格式化来自可配置的x射线检测器(20)的图像数据用于无线传输。该检测器组件(14)还包括无线传输设备(24)，被构造用来无线传输图像数据到用户接口设备(18)；和储能设备(26)，被构造用来提供电功率给可配置的x射线检测器(20)、无线传输设备(24)和嵌入控制器(22)。
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公开(公告)号：CN1991575A
公开(公告)日：2007-07-04
申请号：CN200610064160.8
申请日：2006-12-15
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01T1/2014
Abstract: 提供了一种用于对对象(16)成像的计算机放射摄影(CR)系统(10)。该系统包括辐射源(12)、存储荧光屏(14)、照明源(18)和二维成像器(20)。辐射源设置成照射存储荧光屏，并且存储荧光屏设置成存储辐射能量。照明源设置成照明存储荧光屏的至少一个子区域以便激励光子从存储荧光屏发射。二维(2D)成像器设置成利用激励发射光子从存储荧光屏捕获二维图像。存储荧光屏(14)进一步设置成在照射时发射即时发射光子，并且2D成像器(20)进一步设置成从存储荧光屏(14)接收即时发射光子。
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公开(公告)号：CN1837795A
公开(公告)日：2006-09-27
申请号：CN200610067378.9
申请日：2006-03-24
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01T1/2018 , H01L27/14658
Abstract: 一种探测器组件(10)，其包括与像素阵列(14)直接相连的射线转化层(12)，所述射线转化层用于接收穿过物体的射线。所述像素阵列用于接收由“射线转化”层直接发射的射线或来自于可选的中间光生成层(16)的相应的光信号中的一种，并且该像素阵列进一步用于生成与所述物体相应的图像。
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