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公开(公告)号：CN219777768U
公开(公告)日：2023-09-29
申请号：CN202321109939.2
申请日：2023-05-10
Applicant: 辽宁博芯科半导体材料有限公司
Abstract: 本实用新型公开了一种半导体材料测试的四探针测试仪，包括测试仪主体和操作台，操作台的顶部固定连接有固定轴，固定轴的外侧壁套接有升降架，升降架的侧壁固定连接有连接架，升降架通过连接架固定装配有探头装配架，探头装配架内嵌入安装有测试探头，操作台的表面嵌入安装有固定板，固定板的表面装配有材料放置台，材料放置台内嵌入安装有固定组件，材料放置台通过固定组件与固定板吸附固定。可以通过移动材料放置台来完成测试位置的改变，操作过程简单、方便，通过本装置可以不再需要使用镊子等工具对待测试材料进行多次移动，节约测试过程，提高测试效率。
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