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公开(公告)号：CN114331944A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202011054349.5
申请日：2020-09-29
Applicant: 财团法人工业技术研究院 , 菱生精密工业股份有限公司
IPC: G06T7/00 , G06V10/764 , G06K9/62 , B07C5/00 , B07C5/02
Abstract: 本发明提供一种人工智能瑕疵图像分类方法与其系统。该方法包括：利用传送单元传送微机电麦克风产品至特定位置；利用定位单元定位该微机电麦克风产品；利用第一图像采集单元扫描该微机电麦克风产品以采集待测图像；将该待测图像与多个参考图像进行比对，根据比对结果判断该待测图像的瑕疵分类；根据该比对结果将瑕疵区域标示在该待测图像上；以及根据该瑕疵分类将该微机电麦克风产品分类存放。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110021005B
公开(公告)日：2022-03-15
申请号：CN201810995037.0
申请日：2018-08-29
Applicant: 财团法人工业技术研究院
IPC: G06T7/00 , G06V10/764 , G06V10/82 , G06K9/62
Abstract: 本公开提供一种电路板瑕疵筛选方法及其装置与计算机可读取记录介质，该方法包括：接收瑕疵列表；获取瑕疵列表的多个瑕疵记录的多个瑕疵图像；接收线路布局图；依据线路布局图，分析瑕疵图像之中的第一瑕疵图像的瑕疵位置；依据第一瑕疵图像的瑕疵位置，对第一瑕疵图像进行裁切，以获得第一裁切瑕疵图像；将第一裁切瑕疵图像输入至瑕疵分类模型；以及依据瑕疵分类模型的输出结果，判断第一瑕疵图像为良品图像或非良品图像。
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公开(公告)号：CN110021005A
公开(公告)日：2019-07-16
申请号：CN201810995037.0
申请日：2018-08-29
Applicant: 财团法人工业技术研究院
Abstract: 本公开提供一种电路板瑕疵筛选方法及其装置与计算机可读取记录介质，该方法包括：接收瑕疵列表；获取瑕疵列表的多个瑕疵记录的多个瑕疵图像；接收线路布局图；依据线路布局图，分析瑕疵图像之中的第一瑕疵图像的瑕疵位置；依据第一瑕疵图像的瑕疵位置，对第一瑕疵图像进行裁切，以获得第一裁切瑕疵图像；将第一裁切瑕疵图像输入至瑕疵分类模型；以及依据瑕疵分类模型的输出结果，判断第一瑕疵图像为良品图像或非良品图像。
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公开(公告)号：CN110006895A
公开(公告)日：2019-07-12
申请号：CN201910008428.3
申请日：2019-01-04
Applicant: 财团法人工业技术研究院
IPC: G01N21/84
Abstract: 本发明公开一种检测装置与检测方法。检测装置包括一光学检查单元、一光学分析单元及一浓度检测单元。该光学检查单元用以提取一被测物的一图像。该光学分析单元用以分析该图像的一第一原色的一第一强度与一第二原色的一第二强度。该浓度检测单元用以至少依据该第一强度及该第二强度，以一检测回归曲线或一分组模型，获得该被测物的一成分的一浓度。
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