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公开(公告)号：CN101726844A
公开(公告)日：2010-06-09
申请号：CN200810171601.3
申请日：2008-10-21
Applicant: 财团法人工业技术研究院
Abstract: 本发明公开了一种干涉相位差显微镜，适于检测于量测区内的待测物。干涉相位差显微镜包括光源、分光镜与影像传感器，其中分光镜是将光源所产生的光束反射至量测区，而光束从量测区被反射后会穿过分光镜而入射影像传感器。干涉相位差显微镜更于光束的光路上配置第一偏极片、第二偏极片、第一干涉相位差棱镜、波板以及第二干涉相位差棱镜，其中第一偏极片是位于光源与分光镜之间，而第二偏极片是位于分光镜与影像传感器之间，且第一干涉相位差棱镜、波板以及第二干涉相位差棱镜是依序位于分光镜与量测区之间。第一干涉相位差棱镜的主轴与第二干涉相位差棱镜的主轴夹90度角。
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公开(公告)号：CN104569712B
公开(公告)日：2017-08-25
申请号：CN201310583064.4
申请日：2013-11-18
Applicant: 财团法人工业技术研究院
IPC: G01R31/02
Abstract: 本发明提供一种光电检测系统。光电检测系统包括电路旋转连接器以及光电感测滚轮。电路旋转连接器包括旋转轴承相连接的外固定部和内旋转部，并耦接外部电源使得具有第一端子和第二端子的内旋转部转动。在光电感测滚轮中，滚轴的外侧包覆与第一端子电性连接的一金属层。光电层包覆于金属层的外侧。至少一导电环设置于光电感测滚轮的轴向外侧，并与具有第二端子电性连接。当待测膜片贴合在光电感测滚轮上时，光电层根据导电图案与金属层间的电压差，控制光电层对应于导电图案的部分的透光性。
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公开(公告)号：CN103809284B
公开(公告)日：2017-07-28
申请号：CN201210505467.2
申请日：2012-11-30
Applicant: 财团法人工业技术研究院
Abstract: 本发明揭露一种光学旋转装置以及干涉相位差显微镜。光学旋转装置包括旋转组件以及驱动机构。旋转组件具有多个驱动槽，其等间距环状排列于旋转组件的侧壁。驱动机构包括驱动凸块，其持续环绕旋转轴转动。光学组件设置于旋转组件，当驱动凸块位于驱动槽内时，驱动凸块推动旋转组件旋转，进而使光学组件间歇性地旋转。
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公开(公告)号：CN103809284A
公开(公告)日：2014-05-21
申请号：CN201210505467.2
申请日：2012-11-30
Applicant: 财团法人工业技术研究院
Abstract: 本发明揭露一种光学旋转装置以及干涉相位差显微镜。光学旋转装置包括旋转组件以及驱动机构。旋转组件具有多个驱动槽，其等间距环状排列于旋转组件的侧壁。驱动机构包括驱动凸块，其持续环绕旋转轴转动。光学组件设置于旋转组件，当驱动凸块位于驱动槽内时，驱动凸块推动旋转组件旋转，进而使光学组件间歇性地旋转。
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公开(公告)号：CN1621815A
公开(公告)日：2005-06-01
申请号：CN200310118813.2
申请日：2003-11-28
Applicant: 财团法人工业技术研究院
CPC classification number: G01J3/4406 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0218 , G01J3/0227 , G01J3/0243 , G01J2003/1213 , G01N21/645 , G01N21/6456 , G01N2021/6463
Abstract: 本发明是关于一种多重反射萤光探头，是配合一样品表面的萤光材料检测，包括：一产生一激发光的光源，该激发光照射该样品上的萤光材料产生萤光；二共焦排列的离轴抛物面镜，用以收集并反射该入射至该样品的激发光与萤光；一影像检测器，以检测该样品上的萤光材料所发出的萤光；一滤光镜，位于该样品与该影像检测器之间，以滤除该反射的激发光；以及一光学显影镜组，位于该滤光镜与该影像检测器之间，以将该萤光聚焦于该影像检测器上。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102749749B
公开(公告)日：2015-06-03
申请号：CN201110365188.6
申请日：2011-11-11
Applicant: 财团法人工业技术研究院
IPC: G02F1/1334 , G02F1/1333 , G02F1/13 , G01N21/88
Abstract: 本发明涉及一种电光检测器，其包括一光源产生装置、一电光调变装置、一支撑模块以及一取像模块。该光源产生装置发射一光束。该电光调变装置调变该光束后该光束入射一待测物。该支撑模块包括一透明基板，该透明基板支撑该待测物并使调变后的该光束入射该透明基板。该取像模块转变该支撑模块所反射的该光束而成一图像信号。
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公开(公告)号：CN104569712A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201310583064.4
申请日：2013-11-18
Applicant: 财团法人工业技术研究院
IPC: G01R31/02
Abstract: 本发明提供一种光电检测系统。光电检测系统包括电路旋转连接器以及光电感测滚轮。电路旋转连接器包括旋转轴承相连接的外固定部和内旋转部，并耦接外部电源使得具有第一端子和第二端子的内旋转部转动。在光电感测滚轮中，滚轴的外侧包覆与第一端子电性连接的一金属层。光电层包覆于金属层的外侧。至少一导电环设置于光电感测滚轮的轴向外侧，并与具有第二端子电性连接。当待测膜片贴合在光电感测滚轮上时，光电层根据导电图案与金属层间的电压差，控制光电层对应于导电图案的部分的透光性。
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公开(公告)号：CN102749749A
公开(公告)日：2012-10-24
申请号：CN201110365188.6
申请日：2011-11-11
Applicant: 财团法人工业技术研究院
IPC: G02F1/1334 , G02F1/1333 , G02F1/13 , G01N21/88
Abstract: 本发明涉及一种电光检测器，其包括一光源产生装置、一电光调变装置、一支撑模块以及一取像模块。该光源产生装置发射一光束。该电光调变装置调变该光束后该光束入射一待测物。该支撑模块包括一透明基板，该透明基板支撑该待测物并使调变后的该光束入射该透明基板。该取像模块转变该支撑模块所反射的该光束而成一图像信号。
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公开(公告)号：CN102411099A
公开(公告)日：2012-04-11
申请号：CN201010292494.7
申请日：2010-09-25
Applicant: 财团法人工业技术研究院
Abstract: 本发明公开一种基板电性的测量设备。上述基板电性的测量设备包括一第一电光调制装置，设置于一第一检测滚轮外围。一待测基板，传输于多个传动滚轮之间，并与该第一电光调制装置接触。一电压供应装置，提供一电压差于该电光调制装置与该待测基板之间，以及一第一取像系统，接收由该待测基板的一第一面反射的一第一检测光。
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公开(公告)号：CN100514044C
公开(公告)日：2009-07-15
申请号：CN200310118813.2
申请日：2003-11-28
Applicant: 财团法人工业技术研究院
CPC classification number: G01J3/4406 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0218 , G01J3/0227 , G01J3/0243 , G01J2003/1213 , G01N21/645 , G01N21/6456 , G01N2021/6463
Abstract: 本发明是关于一种多重反射荧光探头，是配合一样品表面的荧光材料检测，包括：一产生一激发光的光源，该激发光照射该样品上的荧光材料产生荧光；二共焦排列的离轴抛物面镜，用以收集并反射该入射至该样品的激发光与荧光；一影像检测器，以检测该样品上的荧光材料所发出的荧光；一滤光镜，位于该样品与该影像检测器之间，以滤除该反射的激发光；以及一光学显影镜组，位于该滤光镜与该影像检测器之间，以将该荧光聚焦于该影像检测器上。
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