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发明公开
芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质审中-实审

公开(公告)号：CN117007933A

公开(公告)日：2023-11-07

申请号：CN202210466608.8

申请日：2022-04-29

申请人： 象帝先计算技术(重庆)有限公司

发明人： 王宇

IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/3185

摘要： 本公开提供一种芯片测试方法、装置、电子设备及可读存储介质。其中，芯片测试方法包括：获得被测芯片的原始测试向量文件，原始测试向量文件包括JTAG接口的时序波形数据和function clock接口的时序波形数据；对JTAG接口的每个时序波形数据进行修改，使得每个时序波形数据对应的波形的持续时间延长为原始持续时间的N倍，从而获得变换后的测试向量文件；原始持续时间等于functionclock接口的最高有效频率所对应的周期，N等于function clock接口的最高有效频率与JTAG接口的最高有效频率的比值；利用变换后的测试向量文件对被测芯片进行测试。本公开中，通过将JTAG接口的时序波形数据的持续时间延长为原始持续时间的N倍，使得在芯片测试的Function Setup阶段，function的测试频率实现最大化。