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公开(公告)号：CN102048553B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201010624950.3
申请日：2010-08-31
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/027 , A61B6/4441 , A61B6/507 , A61B6/5205 , G06T11/006 , G06T2211/416 , G06T2211/421
Abstract: 本发明涉及一种用于从测量数据(g)中重建检查对象的图像数据(f)的方法，其中，在计算机断层扫描系统(C1)的辐射源(C2、C4)与检查对象之间相对螺旋运动时，由检测器(C3、C5)在其Tam-Danielsson窗的内部和外部采集所述测量数据(g)。由于螺旋运动，在Tam-Danielsson窗的外部的测量数据(g)存在中断。通过仅使用Tam-Danielsson窗的测量数据，从测量数据(g)中进行第一图像数据(f)的数学上精确的第一重建。此外，通过至少使用Tam-Danielsson窗外部的其他测量数据，从测量数据(g)中进行第二图像数据(f)的数学上精确的第二重建，其中，通过使用存在的测量数据(g)和/或第一图像数据(f)和/或从存在的测量数据(g)中重建的其他图像数据(f)，补偿测量数据的中断。最后将第一图像数据(f)与第二图像数据(f)进行组合。
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公开(公告)号：CN102048553A
公开(公告)日：2011-05-11
申请号：CN201010624950.3
申请日：2010-08-31
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/027 , A61B6/4441 , A61B6/507 , A61B6/5205 , G06T11/006 , G06T2211/416 , G06T2211/421
Abstract: 本发明涉及一种用于从测量数据(g)中重建检查对象的图像数据(f)的方法，其中，在计算机断层扫描系统(C1)的辐射源(C2、C4)与检查对象之间相对螺旋运动时，由检测器(C3、C5)在其Tam-Danielsson窗的内部和外部采集所述测量数据(g)。由于螺旋运动，在Tam-Danielsson窗的外部的测量数据(g)存在中断。通过仅使用Tam-Danielsson窗的测量数据，从测量数据(g)中进行第一图像数据(f)的数学上精确的第一重建。此外，通过至少使用Tam-Danielsson窗外部的其他测量数据，从测量数据(g)中进行第二图像数据(f)的数学上精确的第二重建，其中，通过使用存在的测量数据(g)和/或第一图像数据(f)和/或从存在的测量数据(g)中重建的其他图像数据(f)，补偿测量数据的中断。最后将第一图像数据(f)与第二图像数据(f)进行组合。
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公开(公告)号：CN1721844A
公开(公告)日：2006-01-18
申请号：CN200510084664.1
申请日：2005-07-15
Applicant: 西门子公司
CPC classification number: G06T11/005 , A61B6/032 , A61B6/583 , A61B6/585
Abstract: 本发明涉及一种用于校正由具有多行探测器通道的辐射探测器的投影数据再现截面图像的设备的探测器信号的方法，该设备尤其是计算机断层造影设备、该多行探测器通道形成投影数据，其中，计算各X射线穿过检查对象之后的衰减值。本发明的特征在于，为了用X射线的衰减值来再现截面图像而在计算该衰减值之前对探测器输出信号进行非线性校正。
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公开(公告)号：CN1551745A
公开(公告)日：2004-12-01
申请号：CN02817274.4
申请日：2002-08-21
Applicant: 西门子公司
IPC: A61B6/03
CPC classification number: G01N23/04 , A61B6/4035 , A61B6/4241 , A61B6/482 , A61B6/50 , A61B6/501 , A61B6/502 , A61B6/505 , A61B6/508 , A61B6/583
Abstract: 本发明涉及一种方法、一种X射线设备以及一种计算机软件产品，用于确定人体或动物检查对象中物质密度分布和原子序数分布，并使材料技术和安全技术在检查对象中成为可能。确定在第一X射线频谱中第一X射线吸收值与密度和原子序数的函数关系，至少确定在第二X射线频谱中第二X射线吸收值与密度和原子序数的函数关系。根据检查对象的X射线吸收值在第一X射线频谱中的第一分布绘制和检查对象的X射线吸收值在第二X射线频谱中的至少第二分布的绘制，通过X射线吸收值的第一分布的第一X射线吸收值的函数关系与X射线吸收值的第二或其它分布的与第一X射线吸收值对应的X射线吸收值的函数关系进行比较获得密度和原子序数值。
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公开(公告)号：CN101074993A
公开(公告)日：2007-11-21
申请号：CN200710103949.4
申请日：2007-05-15
Applicant: 西门子公司
CPC classification number: H04N5/32 , G01T1/2985 , G03B42/02
Abstract: 本发明涉及一种用于检测单个量子的X射线检测器，具有多个检测器元件(2)和与检测器元件连接的分析单元(4)，分析单元设计为对每个检测器元件分配一个第一能量阈值(e1)，其中由检测器元件记录的不同射线频谱(Sp1，Sp2)的一部分(s1(k))具有低于该能量阈值(e1)的能量，而另一部分(s2(k))具有高于该能量阈值(e1)的能量，不同检测器元件的能量阈值不同地设置，使得第一射线频谱(Sp1)中具有高于或低于能量阈值的射线频谱的部分(s1(k))与第二射线频谱(Sp2)中具有高于或低于能量阈值的射线频谱的部分(s2(k))之比对不同的检测器元件相互平衡。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1748647A
公开(公告)日：2006-03-22
申请号：CN200510103923.0
申请日：2005-09-15
Applicant: 西门子公司
Inventor： 卡尔·施蒂尔斯托弗
CPC classification number: A61B6/032 , G06T11/005
Abstract: 本发明涉及一种方法和一种计算机断层造影设备，它们使得能够按照简单的方式，特别是在计算机断层造影设备的拍摄系统(1，2)每个回转中拍摄区域迅速进动的条件下，通过对每幅体层图像Ik计算环伪影图像Rk而从体层图像Ik中去除环伪影。在此，首先对每幅体层图像Ik计算临时环伪影图像Rtk，并随后通过对临时环伪影图像Rtk的至少一部分Tsub的平均来建立最后的环伪影图像Rk，其中，将临时环伪影图像Rtk在平均之前这样旋转，使得在临时环伪影图像Rtk中的现有环伪影基本上重合并且就其位置而言基本上与在体层图像Ik中现有的环伪影一致。
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公开(公告)号：CN1720862A
公开(公告)日：2006-01-18
申请号：CN200510077815.0
申请日：2005-06-09
Applicant: 西门子公司
Abstract: 本发明涉及一种通过断层造影设备产生周期和复合运动的检查对象的截面图像的方法，该方法根据检测器输出数据再现至少一个截面内的截面图像，其中，在至少一个截面区域内再现至少两幅来自检查对象的该运动周期的不同阶段的截面图像(S1，S2，S3)，将这些截面图像自动分为具有好和差图像质量的子区域(Q11－Q33)，并从具有好图像质量的子区域(Q11－Q33)中对每个截面组合出至少一幅完整的截面图像(S)。
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公开(公告)号：CN1494872A
公开(公告)日：2004-05-12
申请号：CN03139096.X
申请日：1998-03-23
Applicant: 西门子公司
CPC classification number: G01T1/2985 , G01T1/2018
Abstract: 本发明公开了一种计算机层析X射线摄影机，其具有一个X射线放射源(1)，该放射源发射扇面状的X射线束(2)，射线束撞击到一探测器(3)上，该探测器由一排单个探测元件所组成，其中，设有一个直接转换的半导体作为X射线探测器，为消除直接转换半导体内的串扰，该半导体具有多个像素接触点(18)。
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公开(公告)号：CN100450441C
公开(公告)日：2009-01-14
申请号：CN200510063812.1
申请日：2005-04-07
Applicant: 西门子公司
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/4028 , A61B6/4085 , G01N23/046 , G01N2223/419
Abstract: 本发明涉及一种具有至少一个X射线管的计算机层析X射线摄影仪，该X射线管与一位置相对置的包括多个探测器行的探测器相结合围绕一Z轴圆形或螺旋形旋转地扫描一对象，其中，每个探测器行有一个沿Z方向的孔径ΔZ和多个探测元件，以及在所述X射线管与探测器之间设有一个探测器光阑，它使探测器行的孔径ΔZ沿Z方向缩小，其中，所述X射线管有一个相对于该X射线管位置可变的焦点(跳跃焦点)，它在扫描期间至少交替地占据两个不同的位置(F1、F2)，这些位置相对于所述X射线管(R)有不同的Z坐标。其中，沿Z方向的扫描速率按照跳跃焦点相对于该X射线管(R)不同Z坐标的数量沿Z方向倍增。
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公开(公告)号：CN101061957A
公开(公告)日：2007-10-31
申请号：CN200710100917.9
申请日：2007-04-28
Applicant: 西门子公司
CPC classification number: A61B6/5282 , A61B6/032 , A61B6/4014
Abstract: 按照本发明建议，在总是要测量的正弦图的基础上按照带有下列方法步骤的两个阶段的方法对散射进行估计：1.根据正弦图中的对象切线(ST)为每条测量射线(SM)确定可能的散射位置(Z)；以及2.根据到达所述散射位置(Z)上的原始辐射以及所述散射射线(SS)、对象切线(ST)和测量射线(SM)的角度关系计算散射的强度。此外，本发明还提出了一种用于产生断层造影照片的X射线CT(1)，其包括至少两个焦点－检测器系统(2，3，4，5)以及一个控制和计算单元(10)，其控制和计算单元(10)包含程序代码(Prgx)，在执行所述程序代码时实施上述方法。
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