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公开(公告)号：CN112639447B
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN201980055666.8
申请日：2019-08-15
Applicant: 西铁城时计株式会社
Abstract: 本发明提供一种可以同轴进行去往试样的光的照射和来自试样的检查光的检测、不易受杂散光的影响的小型光检测模块。本发明的光检测模块具有：光源，其出射去往试样的照射光；分束器，其朝输入输出口反射照射光，而且使通过输入输出口入射的来自试样的检查光透过；受光元件，其接收检查光；以及壳体，其内置分束器，而且具有第1开口、第2开口、第3开口以及第4开口，所述第1开口设置光源而供照射光传播，所述第2开口相当于输入输出口，所述第3开口设置受光元件，所述第4开口引导照射光当中透过了分束器的杂散光，第1开口至第4开口在分束器的位置上相互连通，第4开口沿与分束器的反射面正交的方向延伸。
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公开(公告)号：CN101010611A
公开(公告)日：2007-08-01
申请号：CN200580029221.0
申请日：2005-11-15
Applicant: 西铁城时计株式会社
Abstract: 一种自动调焦点装置，由液晶透镜驱动器对液晶透镜施加规定电压。根据通过了因施加规定电压而处于过渡响应动作中的液晶透镜后的光学像，生成图像信号，以规定的周期对该图像信号进行取样，从而抽出多个自动聚焦信号。对所抽出的多个自动聚焦信号的电平进行比较，判定自动聚焦信号的最大值。从而以液晶透镜，利用液晶透镜的过渡响应动作，以足够快的速度检出调焦点。
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公开(公告)号：CN112639447A
公开(公告)日：2021-04-09
申请号：CN201980055666.8
申请日：2019-08-15
Applicant: 西铁城时计株式会社
Abstract: 本发明提供一种可以同轴进行去往试样的光的照射和来自试样的检查光的检测、不易受杂散光的影响的小型光检测模块。本发明的光检测模块具有：光源，其出射去往试样的照射光；分束器，其朝输入输出口反射照射光，而且使通过输入输出口入射的来自试样的检查光透过；受光元件，其接收检查光；以及壳体，其内置分束器，而且具有第1开口、第2开口、第3开口以及第4开口，所述第1开口设置光源而供照射光传播，所述第2开口相当于输入输出口，所述第3开口设置受光元件，所述第4开口引导照射光当中透过了分束器的杂散光，第1开口至第4开口在分束器的位置上相互连通，第4开口沿与分束器的反射面正交的方向延伸。
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