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公开(公告)号:CN1313990A
公开(公告)日:2001-09-19
申请号:CN00801105.2
申请日:2000-06-13
CPC classification number: G11B33/121 , G11B5/11 , G11B21/16 , G11B21/22 , G11B25/043
Abstract: 本发明提供了一种卡式磁记录装置,在该装置中,当承载于下方磁头臂(32b)上的磁头(34b)处于不对磁盘(13)进行存取的待机位置时,磁头臂32b收纳在设于架板(3)上的开口部(37),因此,此磁头臂与另一方的(上方的)磁头臂32a既使在厚度很薄的卡式磁记录装置中也能保持规定的间隔。在此开口部粘着电磁屏蔽材料,保护磁头(34a、34b)。
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公开(公告)号:CN1684837A
公开(公告)日:2005-10-19
申请号:CN200380100103.5
申请日:2003-10-10
Applicant: 西铁城时计株式会社
IPC: B41J2/445
CPC classification number: G06K15/1261 , B41J2/45 , G06K15/1209
Abstract: 本发明在于提供一种在其中存储有被适当确定的电流值,用于向发光设备供电的曝光装置,和用于制造这种曝光装置的方法。根据本发明的制造方法包括步骤:向发光设备提供参考电流,并测量来自光调制设备的多个像素中各像素的光量;确定从多个像素测得的光量中的最小值是否处在预定范围内;以及当光量的最小值处在预定范围之外时,确定所要提供给发光设备的电流值,以使光量的最小值落在预定范围内。
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公开(公告)号:CN1684836A
公开(公告)日:2005-10-19
申请号:CN200380100089.9
申请日:2003-10-10
Applicant: 西铁城时计株式会社
IPC: B41J2/445
CPC classification number: G06K15/1261 , B41J2/45 , G06K15/1209
Abstract: 本发明的目的在于,提供能够采用从包含有相邻发光部件光线的复合光中检测对应于一个特定发光部件的光量的方法,确定各个发光部件校正值的曝光装置,而且还提供用于制造这种曝光装置的方法。根据本发明的制造方法包括步骤:同时点亮多个发光部件,通过使用线状光接收设备进行测量来检测在所有多个发光部件上的输出光量分布,通过使用输出光量分布检测与每个发光部件相对应的峰位置,基于峰位置检测每个发光部件的光量,和基于每个发光部件的光量,确定用于校正发光部件光量不均匀性的校正值。
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公开(公告)号:CN1168091C
公开(公告)日:2004-09-22
申请号:CN00801105.2
申请日:2000-06-13
CPC classification number: G11B33/121 , G11B5/11 , G11B21/16 , G11B21/22 , G11B25/043
Abstract: 本发明提供了一种卡式磁记录装置,在该装置中,当承载于下方磁头臂(32b)上的磁头(34b)处于不对磁盘(13)进行存取的待机位置时,磁头臂(32b)收纳在设于架板(3)上的开口部(37),因此,此磁头臂与另一方的(上方的)磁头臂(32a)既使在厚度很薄的卡式磁记录装置中也能保持规定的间隔。在此开口部粘着电磁屏蔽材料,保护磁头(34a、34b)。
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