公开(公告)号：CN105515690B

公开(公告)日：2018-04-10

申请号：CN201510843306.8

申请日：2015-11-26

Applicant: 西安空间无线电技术研究所

Inventor： 刘灵鸽 ,  马玉丰 ,  焦婧 ,  赵兵 ,  张启涛 ,  崔雷

IPC: H04B17/12 ,  H04B17/24 ,  H04B1/00 ,  H04B1/52

Abstract: 本发明提供了一种变频天线的近场扫频测试系统及其测试方法，该系统包括测试信号源、耦合模块、测试通道、参考通道、接收机和控制计算机；其中，测试通道包括发射模块、被测变频天线、第二混频模块和第三混频模块。本发明测试通道中的第二混频模块对被测变频天线输出的多频点信号进行变频处理，该混频模块的本振信号按照设定的频率列表顺序选取，并在每次接收到触发信号后轮换本振信号频率，从而实现各频点天线输出信号的分时测试，每次将其中一个频点的输出信号变频到射频发射信号频段，然后采用与参考模块相同的本振信号进行下变频，得到用于比相和比幅的中频参考信号和中频测试信号；这种测试方法可以确保链路信号的相位一致性，实现变频天线的平面近场快速扫频测试功能，提高测试效率。

公开(公告)号：CN105515690A

公开(公告)日：2016-04-20

申请号：CN201510843306.8

申请日：2015-11-26

Applicant: 西安空间无线电技术研究所

Inventor： 刘灵鸽 ,  马玉丰 ,  焦婧 ,  赵兵 ,  张启涛 ,  崔雷

IPC: H04B17/12 ,  H04B17/24 ,  H04B1/00 ,  H04B1/52

CPC classification number: H04B1/0096 ,  H04B1/52

Abstract: 本发明提供了一种变频天线的近场扫频测试系统及其测试方法，该系统包括测试信号源、耦合模块、测试通道、参考通道、接收机和控制计算机；其中，测试通道包括发射模块、被测变频天线、第二混频模块和第三混频模块。本发明测试通道中的第二混频模块对被测变频天线输出的多频点信号进行变频处理，该混频模块的本振信号按照设定的频率列表顺序选取，并在每次接收到触发信号后轮换本振信号频率，从而实现各频点天线输出信号的分时测试，每次将其中一个频点的输出信号变频到射频发射信号频段，然后采用与参考模块相同的本振信号进行下变频，得到用于比相和比幅的中频参考信号和中频测试信号；这种测试方法可以确保链路信号的相位一致性，实现变频天线的平面近场快速扫频测试功能，提高测试效率。