一种天线时延测试方法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103001709B

    公开(公告)日:2015-07-08

    申请号:CN201210378474.0

    申请日:2012-09-29

    Abstract: 本发明公开了一种天线时延测试方法,该方法首先在满足天线远场条件的微波暗室环境,引入与被测天线同频段,同极化的三个形式一致的标准时延天线,并将其中每两个标准时延天线组成收发链路,链路满足天线远场条件,用矢量网络分析仪测出其组合时延,再利用三组测出的组合时延值,联立方程组,求出任意一个标准时延天线的时延值,最后将时延已知的标准时延天线与被测天线组成收发链路,链路满足天线远场条件,用矢量网络分析仪测出其组合时延,再利用标准时延天线时延为已知量,解出被测天线的时延值。本发明的测试方法简单、测试精度高,并且适用范围广。

    一种天线时延测试方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103001709A

    公开(公告)日:2013-03-27

    申请号:CN201210378474.0

    申请日:2012-09-29

    Abstract: 本发明公开了一种天线时延测试方法,该方法首先在满足天线远场条件的微波暗室环境,引入与被测天线同频段,同极化的三个形式一致的标准时延天线,并将其中每两个标准时延天线组成收发链路,链路满足天线远场条件,用矢量网络分析仪测出其组合时延,再利用三组测出的组合时延值,联立方程组,求出任意一个标准时延天线的时延值,最后将时延已知的标准时延天线与被测天线组成收发链路,链路满足天线远场条件,用矢量网络分析仪测出其组合时延,再利用标准时延天线时延为已知量,解出被测天线的时延值。本发明的测试方法简单、测试精度高,并且适用范围广。

Patent Agency Ranking